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DektakXT表面轮廓仪：触针式轮廓仪的新标准&June&2011The&new&stylus&profiler&features&a&revolutionary&design&that&enables&unmatched&repeatability&of&under&five&angstroms&(&5&A)&and&up&to&40%&improved&scanning&speeds.&A&powerful&combination&of&industry&firsts&includes&a&unique&vibration&free&single-arch&design,&smart&electronics&with&64&bit&parallel&processing&software&for&unmatched&speed,&and&HD&true&color&camera&for&enhanced&optical&image&resolution.&The&delivers&ultimate&performance&and&efficiency&to&accelerate&advances&in&materials&research&and&product&quality.&&&Unmatched&performance&and&better&than&5&A&repeatability&&Unprecedented&efficiency&and&ease&of&use&&Easy&upgrade&from&2D&profiling&to&full&200&mm&3D&automation&Critical&Results&for&Multiple&Applications&The&technology&breakthroughs&incorporated&in&this&tenth-generation&system&enable&the&critical&nanometer-level&film,&step&and&surface&measurements&that&will&power&future&advances&in&the&micro&electronics,&semiconductor,&solar,&high-brightness&LED,&medical,&scientific&and&materials&science&markets.&&&Thin&Film&thickness&measurement&&&Ensuring&High&Yield,&&&Surface&Roughness&Verification&&&Assuring&Performance&&Thin&film&stress&measurement&&&Eliminating&Defects&&Solar&Trace&Analysis&&&Reducing&Manufacturing&Costs&&Microfluidics&&&Verifying&3D&Design&and&Performance&Watch&Bruker's&DektakXT&Company:& &Contact:& Drew&MurrayTelephone:& +44&Email:& Web:& &&Category: &消息延伸布鲁克&DektakXT&台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5&A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。&DektakXT&完美设计探针系统的评价体系受三个因素影响：能否重复测量，数据采集和分析速度快慢，操作的难易程度。这些因素直接影响了数据的质量和操作效率。DektakXT利用全新结构和和最佳软件来实现可重复、时间短、易操作这三个必要因素，达到最佳的仪器使用效果。&&强化操作的可重复性&Delivering&Repeatable&MeasurementsDektakXT在设计上的几个提高，使其在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现，台阶高度重复性可以到达5&A.使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更坚硬持久不易弯曲损坏，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。同时，Bruker还对仪器的智能化电子器件进行完善，提高其稳定性，降低温度变化对它的影响，并采用先进的数据处理器。在控制器电路中使用这些灵敏的电子元器件,会把可能引起误差的噪音降到最低，DektakXT的系统因此可以更稳定可靠的实现对高度小于10nm的台阶的扫描。Single-arch结构和智能器件的联用，大大降低了扫描台的噪音，增强了稳定性，使其成为一个极具竞争力的台阶仪（表面轮廓仪）。&提高数据采集和分析速度&SpeedingUp&Collectionand&Analysis利用独特的直接扫描平台，DektakXT通过减少从得到原始数据到扣除背底噪音所需要的时间，来提高扫描效率。这一改进，大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描的扫描速度。在保证质量和重复性的前提下，可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker&64-Bit数据采集分析同步操作系统Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描时的数据分析处理效率。Vision64还具有最有效直观的用户界面，简化了实验操作设置，可以自动完成多扫描模式，使很多枯燥繁复的实验操作变得更快速简洁。&&&完善的操作和分析系统&PerfectingOperationand&Analysis与DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面，具备智能结构，可视化的使用流程，以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求，快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。DektakXT&技术参数&台阶高度重复性5&A&Single-arch设计大大提高了扫描稳定性&前置敏化器件，降低了噪音对测量的干扰&新的硬件配置使数据采集能力提高了40%&64-bit，这一Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了十倍。功能卓越，操作简易&直观的Vision64用户界面操作流程简便易行&针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事台阶仪（表面轮廓仪）领域无可撼动的世界领先地位&布鲁克的台阶仪，体积轻巧，功能强大。&单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围
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> 正文峰聚广州 新品频发&&&&23:10:35&&&&中国半导体照明网&&&&&&行业分类:&&&&浏览&　　中国地区最具规模的半导体照明行业年度盛会之一，“第八届中国国际半导体照明展览会于11月8-日在广州白云国际会议中心盛大开幕。本届展览会由由国家半导体照明工程研发及产业联盟(CSA)与励展博览集团(Reed Exhibitions)共同举办。展会面积达上万平方米。全面覆盖半导体照明行业工艺装备、原材料，技术、产品与应用的创新新品。&――第八届中国国际半导体照明展览会开幕&&&&&&中国地区最具规模的半导体照明行业年度盛会之一，“第八届中国国际半导体照明展览会于11月8-日在广州白云国际会议中心盛大开幕。本届展览会由由国家半导体照明工程研发及产业联盟(CSA)与励展博览集团(Reed&Exhibitions)共同举办。展会面积达上万平方米。全面覆盖半导体照明行业工艺装备、原材料，技术、产品与应用的创新新品。&& 　　展览会已成功举办七届，吸引了无数业内行业精英亲临现场，众多LED领域的知名厂商再次接踵而至，借助这个舞台一展风采。爱思强、科锐(CREE)、维易科(VEECO)&、国星光电(NATIONSTAR)&、首尔半导体(Seoul&semiconductor)&、艾姆赛特(AMSAT)&、晶科电子(APT)&、中为、大连路明、远方、晶能光电、勤上光电、扬中中科、新力光电、Instrument&System、罗门哈斯(Rohm&Hass)、爱德华兹(Edwards)&、LayTec以及安森美半导体(ON&Semiconductor)等行业巨擘将悉数登场，为观众做出精彩的产品展示。& 　　值得关注的是，展会是国内唯一受到数十家“国家级半导体照明产业化基地”及“十城万盏”半导体照明应用工程试点示范城市高度关注并积极组团参与的专业展会。由科技部授牌的“国家级半导体照明产业化基地”&东莞、大连、南海、南昌、潍坊、扬州、厦门、石家庄等国家半导体照明产业化基地联袂亮相，尽显展会行业地位。& 　　作为CHINASSL的重头大戏，厂商即将展出的新品是必将是专业观众所重点关注的。那么，CHINASSL2011又将有哪些新品即将登陆？在展会现场，我们甄选了一些厂商的部分参展新品，&以飨观众。 　天津三安光电有限公司和亚威朗公司展示的外延片 室内照明产品种类繁多，品种丰富，涵盖日常应用的多款灯具已经可以批量生产并推向市场&部分企业展台展示 洲明展示的户内超薄LED显示屏，箱体最薄尺寸14mm 　　Bruker：台阶仪DektakXT 　　布鲁克台阶仪DektakXT延续开创性的风格，成为世界上第一台采用具有单拱龙门式设计，配备全彩HD摄像机，并且利用64位同步数据处理模式完成最佳测量和操作效率的台阶仪,以优质，可靠，高效等诸多特性得到精确无误的台阶高度和表面粗糙度信息。&　　国星：多芯片模组 　　佛山市国星光电股份有限公司将展示的多芯片模组属于高密度集成光源，单个产品可以提供更高的光通量，光色一致性高。采用Chip-On-Board技术，不但散热性能好，而且成本相对较低，同时具有光效高、寿命长、可靠性高等特点。主要应用于球泡灯、筒灯、面板灯、射灯、蜡烛灯、景观灯等通用照明领域。　　晶科：白光LED 　　易系列白光LED产品是晶科电子（APT&Electronics&Ltd.）最新推出的陶瓷基光源产品系列。该系列产品基于APT专利技术―倒装共晶焊技术，实现了单芯片及多芯片模组的无金线、无固晶胶封装，具有高亮度、高光效、高可靠性、低热阻、颜色一致性好等特点。 　　中为：ZWL-S6辐射计 　　杭州中为光电技术股份有限公司将展示的ZWL-S6超高精度光谱辐射计，运用中为自主的核心算法及先进的系统设计，确保了辐射计的整体性能指标，集成中为F4M专利技术积分球、卓越的驱动电源、极致专业的夹具、权威的标准光源等顶级部件，打造成中为ZWL-3140Q超高精度颜色测量系统。其检测精度、稳定度、测量范围、测试速度、软件功能、外观设计等指标均达到国际顶级水平，真正打破了国外设备厂商在高端测试领域的垄断局面。
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