线偏振光I（dnf光强卡有哪些）经过1/4波片的dnf光强卡有哪些是多少？能算出来吗？

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2012-01-24 07:09 标签： dnf光强卡有哪些
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1、怎样利用波片将一个圆偏振光变成线偏振光？
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测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的方法和装置
项目编号：
技术简要说明
一种测量１／４波片的相位延迟和快轴方向的方法和装置，该方法的原理是：采用了椭圆偏振的光强探测技术，依次将λ／４菲涅尔双菱体和待测１／４波片置于起偏器和检偏器之间，转动待测１／４波片和检偏器至不同的位置并探测输出的光强，即可得到１／４波片的相位延迟和快轴的方向。本发明装置能够在宽光谱范围内同时测量不同波长的１／４波片的相位延迟和快轴方向，测量精度高，而且操作方便，测量自动完成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。
该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。
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专利权信息
专利类型：发明
专利申请日：
公开(公告)日：
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人：中国科学院上海光学精密机械研究所
公开(公告)号：
分类号：G01M
11/02;G01J
发明(设计)人：薄锋;朱健强;康俊;范微
国别省市：31[中国|上海]
总流量：373
录入日期： 18:40
温馨提示：该专利受国家知识产权法保护。如您希望使用该专利，请联系专利权人，获得专利权人的授权许可。
一种测量待测１／４波片的相位延迟和快轴方向的方法，其特征在于包括下列步骤：①调整起偏器（３）和检偏器（６）的透偏方向相互垂直：在一单色光束的前进方向同光轴地依次设置起偏器（３）、检偏器（６）、第一聚焦透镜（７）和第一光电探测
器（８），调整起偏器（３）和检偏器（６）的透偏方向相互垂直，逆着光的传播方向看去，起偏器（３）的偏振面在第１象限内且与水平方向Ｘ轴的夹角为４５°，则检偏器（６）的偏振面应在第２象限内，且与起偏器（３）的偏振面垂直；②给待测１／４波片
（５）标记主轴：垂直光路在起偏器（３）和检偏器（６）之间放入待测１／４波片（５）并绕光束转动该待测１／４波片（５），直到出现消光，第一光电探测器（８）探测到的光强最小，表示待测１／４波片（５）的快轴或慢轴与起偏器（３）的偏振面平行，
并标记下该主轴；然后将待测１／４波片（５）绕光束顺时针转动４５°，使所标记的主轴与Ｘ轴平行，此时，起偏器（３）的透偏方向与所标记的该待测１／４波片（５）的主轴方向的夹角为４５°；③置入λ／４菲涅尔双菱体（４）置入光路：然后再
将λ／４菲涅尔双菱体（４）放入起偏器（３）和待测１／４波片（５）之间的光路中，并使光束垂直入射λ／４菲涅尔双菱体（４）的端棱面，光束经过λ／４菲涅尔双菱体（４）后产生相位差δ↓［ＦＲ］＝Ｅ↓［⊥］－Ｅ↓［∥］＝９０°，使经过起偏器（３）的线偏振光变为右旋圆偏振光，该右旋圆偏振光再经过待测１／４波片（５）后，这时待测１／４波片（５）上所标记的Ｘ轴方向的主轴为慢轴或快轴；④测量：当绕光束顺时针转动检偏器（６），若光强逐渐变小，直到第一光电探测器（８）探测出最小光强
，这时检偏器（６）所转过的角度即为该待测１／４波片（５）的相位延迟，同时表明待测１／４波片（５）所标记的Ｘ轴方向的主轴为慢轴；⑤否则，继第③步，绕光束顺时针转动所述的检偏器（６），光强逐渐变大，直到第一光电探测器（８）探测出最大光强
，检偏器（６）所转过的角度即为该待测１／４波片（５）的相位延迟，同时表明待测１／４波片（５）上所标记的Ｘ轴方向的主轴为快轴。
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;视撤公告日
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授权公告号
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授权公告号
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