磨镜会社镜面膜怎么样样?

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06 从野长城返回--优酷3G
06 从野长城返回
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【磨镜会社】办公室恋爱 剧情版 第二弹
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【磨镜会社】办公室恋爱 剧情版 第二弹
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287 / 44325关于分析测试中心与日本电子株式会社共建电镜开放使用的通知-北京化工大学贵重精密仪器共享预约系统-Powered By Lu MinFeng
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关于分析测试中心与日本电子株式会社共建电镜开放使用的通知
文章来源:本站 & 发布者:admin & 发布时间: 10:16:28 & 阅读:<font color="#ff次
关于分析测试中心与日本电子株式会社共建电镜开放使用的通知
&&&&& JEM-2100JSM-7600F
2. http://jmyq./JEM2100JSM7600
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4 TEM SEM欢迎有需要或有兴趣的课题组联系试用,优先安排机时。
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JEM-2100高分辨型透射电子显微镜
一、主要部件
JEM-2100主机,ORIUS SC1000型 CCD,牛津80mm2电制冷X射线能谱仪(EDS),双轴倾转样品杆
二、主要指标
电子枪: &&&&&&&&&&&&&& LaB6(六硼化镧)点分辨率:&&&&&&&&&&&&& 0.23&nm线分辨率:&&&&&&&&&&&&& 0.14&nm加速电压:&&&&&&&&&&&&& 80, 100, 120, 160, 200kV束斑尺寸:&&&&&&&&&&&&& 1.0-25&nm&放大倍数:&&&&&&&&&&&&& ,000(高倍模式);50-6,000(低倍模式)
CCD分辨率:&&&&&&&&&&&&& 4008×2672 max.&& 倾斜角:&&&&&&&&&&&&&&&& ±35&&& 采用MS Windows为基本操作界面,操作直观简便。
三.特色功能
n除高分辨TEM、电子衍射和能谱等基本功能外,该电镜还具备纳米束电子衍射(NBD)、汇聚束电子衍射(CBD)功能,入射束斑可控制在1 至 25&nm,适用于纳米晶体、多相合金、复合材料的衍射表征。
n配备扫描透射电镜(STEM)模式,可采集STEM明场像和暗场像,并配合能谱实现微区元素分析和元素分布像(Mapping)。
JSM-7600F场发射扫描电子显微镜
一、主要部件
&JSM-7600F场发射扫描电镜,二次电子检测器(SE),背散射检测器(BSE),背散射电子衍射检测器(EBSD)
二、主要指标
电子枪:&&&&&&&&&&&&&&& 热场发射
二次电子像分辨率:&&&&& 1.5 nm(1 kV,GB 模式),1.0 nm(15 kV)
放大倍数:&&&&&&&&&&&&& 25 到 1,000,000×
加速电压: &&&&&&&&&&&& 0.1 到 30 kV,附带减速模式
束流:&&&&&&&&&&&&&&&&& 1 pA 到 200 nA(15 kV时)
数字图像:&&&&&&&&&&&&& 5120×3840 max.
样品水平行程(X-Y):&&&& 140 mm×80 mm
倾斜角度:&&&&&&&&&&&&& -5 至 +70°
旋转角度:&&&&&&&&&&&&& 360°
工作距离:&&&&&&&&&&&&& 1.5 mm 到 25 mm
配备上方和低位SEI探测器、BSE检测测器,背散射电子衍射探头(EBSD)
内置光阑角控制镜
三.特色功能
nGentle Beam模式(即“减速模式”)可将电子束损伤降低到最低程度,适用于不导电样品表征。
nγ过滤器,能控制能量选择或二次电子及背散射电子像的图像混和率。
n背散射检测器(BSE)信号可配合二次电子像生成混合运算图像,同时获取形貌图和元素衬度图。
n背散射电子衍射检测器(EBSD)可用于晶体微区取向和晶体结构的分析。
上述特色功能欢迎有需要或有兴趣的课题组与分析测试中心电镜室联系试用。联系人:洪老师;电话:。电子邮件:hongsong@mail.
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