金属膜厚测试仪仪日语怎么说

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2017-12-19 09:13 标签： 金属膜厚测试仪
测试项目 日语怎么说_百度知道
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测试项目 日语怎么说
在表格中有测试项目这一项,应该怎么说?
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テストアイテム试験アイテム検证アイテム“项目＂是指某项工程的意思。本文的项目是指具体测试的项目，所以叫”アイテム”。
采纳率：59%
テスト项目たすとこうもく
应该是： てすとこうもくテスト项目 楼上大错哟~
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单体测试用日语怎么说
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单体测试，多见于IT日语，指程序单独的测试，区别与整体调试、测试；単体テスト（たんたい　てすと）请参考
采纳率：62%
単体検査単体検证
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回答问题，赢新手礼包简介/膜厚测量仪
　　膜厚测量仪又称金属涂镀层厚度测量仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上最普遍使用的都是无膜X射线荧光。
　　在此技术方面广大业界一致认同日本精工膜厚测量仪比较领先，因其为全世界第一台膜厚测量仪的生产商。
　　具体介绍为：进口日本精工（SFT9100M）X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪
　　SFT9100M是精工系列中经济实用又功能齐全的机型
　　用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费
技术参数：/膜厚测量仪
　　可测元素：Ti～U
　　X射线管：管电压45KV，管电流1mA
　　检测器：比例计数管
　　样品观察：CCD摄像机
　　对焦方式：激光自动对焦
　　测定软件：薄膜FP法、检量线法
　　准直器：2个（0.1mm，0.025*0.3mm）
　　安全机能：测量室门自锁功能
　　Z轴防冲撞功能
　　仪器自诊断功能
主要特点/膜厚测量仪
　　★ 自动对焦功能 。配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。
　　★ 具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
　　★ 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防
　　止在对焦时造成的损坏。
　　★ 选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。
　　★ 支持多种语言的软件系统。简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语
　　★ 搭载样品尺寸的兼容性
　　可适用于各种样品，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品，从较厚
　　的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等
　　★ 卤素灯照明
　　★ 即时生成测量报告的便捷性 。运用搭载的Microsoft Word? Excel? 可以简单轻松得到制作报告
　　★ 多种修正功能。基材修正、已知样品修正、人工输入修正
　　★ 搭载了电动X－Y移动平台
　　进口日本精工（）X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪
　　SFT9200是系列中普及型
　　用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费
　　「SFT9200系列」继承了拥有了20多年历史及光辉业绩的「SFT系列」(操作性与可靠性共存)的优点，并不断地发展，成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。
　　产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪
　　产品型号：SFT9200、SFT9250、SFT9255
　　技术参数：
　　仪器的特长：广泛应用型
　　可测元素：Ti～U
　　X射线管：小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)管电压：45kV 管电流：1mA Be窗
　　滤波器：
　　一次滤波器：A1-自动切换
　　二次滤波器：Co-自动切换
　　检测器：比例计数管
　　样品观察：CCD摄像机
　　对焦方式：激光自动对焦
　　测定软件：薄膜FP法、检量线法
　　5个准直器可自动切换
　　型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)
　　型(0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm)
　　安全机能：测量室门自锁功能
　　Z轴防冲撞功能
　　仪器自诊断功能
　　仪器介绍：
　　SFT系列中标准型仪器
　　滤波器
　　另有SFT9250、SFT9255两种机型
　　标准配备有Windows2000中文操作界面
　　采用检量线法和FP法，测量数据与Word和Excel链接
　　自动生成报告和数据处理
　　5个准直器可自动切换
　　工作台3维电动，可编程进行自动测量
　　采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器
　　可防止在对焦时造成仪器的损坏。
　　产品特点：
　　能够测量无铅焊锡
　　配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份
　　搭载中心搜索软件
　　通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
　　拥有防冲功能
　　搭载激光对焦系统
　　搭载测试报告自动生成软件
　　拥有自动测量软件以及中心搜索软件
　　搭载了薄膜FP法软件
　　X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m （1μm）左右,X射线比其短为0. m至0. m (0.01- 100 Å)左右。
　　对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
　　（2） 散乱X射线
　　（3） 透过X射线
　　SII的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。
　　简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
　　具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
　　膜厚测量仪工作原理：膜厚测量仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。通过激光点，一次可以将样品准确对焦。不会出现人为的操作误差。在测量高低不一样的，样口时，仪器可以自动感应，防止样品与仪器的机械部件的冲撞。在进行多点测量时，只要在观察画面的任何地方上点一下，样品台会自动移到所点击的位置，只要将事先测量的信息存到软件中，就可以通过自己动样品台进行多点测量。膜厚测量仪，工作原理
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