服务器硬盘sas6G背板支持SAS12G卡,这个是sas接口么?

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    最近一个研发存储系统的客户遇到一个测试难题:如何正确测量SAS12G高速接口的Hot-S参数?

    SAS12G是最新的高速存储器接口信号速率达到12Gbps,除了通常的波形参数(如抖动眼图等)測量外,Hot-S参数成为非常重要的测量指标SAS12G的Hot-S参数测试的难点如下:

    1)测试点是SAS连接器与PCB板接口处。即测试点既不是连接器对外接口处也鈈是SAS芯片的芯片管脚。即这个Hot-S参数包括芯片和PCB走线的综合S参数参考图1。测试难点是不仅仅要把测试夹具的影响去掉还需要把SAS连接器的影响去掉。

    2)芯片处于工作模式如果是Rx端的Hot-S参数,则只要上电芯片即处于工作模式,也不会向外发信号测试比较容易。但是如果是Tx端的Hot-S参数则需要系统上电,同时设置芯片发出0101测试码型这需要仪器能够处理芯片发出的信号的影响。

    比较幸运的是ENA-TDR完全能够解决这个測试难题测试连接图如图2所示。ENA-TDR通过同轴电缆连接到SAS12G测试夹具通过测试夹具分别测试Tx和Rx的Hot-S参数。

    如何把测试参考面调整到规范要求的測试点呢

    测试校准过程是先用Ecal电子校准件校准到同轴电缆端口,再用端口延伸(补偿时序和损耗)补偿到SAS连接器接口处这时候进行测試。在测试的TDR曲线上使用Gating功能,去除SAS连接器的影响相应显示的差分S参数曲线即是规范要求的Hot-S参数,包括SDD11SCC11,SCD11几个参数

    这时候可以在各个S参数界面上增加Limit,即测试模板通过模板可以快速的判断是否满足规范要求。Rx和Tx的测试结果如图3和4所示

   最后感谢安捷伦上海开放实驗室提供完整的测试工具和测试环境。

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