5-9若入射光的光按波长分类范围是390-770mm,问第二级光谱的哪段光按波长分类范围与第三级光谱发生重合

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平行、等宽而又等间距的多缝装置称为衍射光栅它是利用光的衍射和干涉现象进行分光的一种色散元件,衍射光栅有透射式和反射式两种光谱仪常用的是反射光栅,它的缝是不透明的反射铝膜在一块极其平整的毛坏上镀上铝层,刻上许多平行、等宽而又等距的线槽每条线槽起着一个“狭缝”的作用,每毫米刻线有1200条、2400条或3600条整块光栅的刻线总数几万条到几十万条。

反射光栅从形状上鈳分为平面光栅凹面光栅和阶梯光栅,

从制作方法上又可分为机刻光栅和全息光栅

在一般的反射光栅中,由于光栅衍射中没有色散能仂的零级衍射的主极大占去衍射光强的大部分(80%以上)随着主极大的级次增高,光强迅速减弱因此,使用这种反射光栅时其一级较弱,二级衍射更弱为解决这个问题,将光栅的线槽刻成锯齿形使其具有定向“闪耀”能力,把能量集中分布在所需的光按波长分类范圍光栅复制技术的发展,大大降低了生产成本并缩短生产周期使光栅得到广泛应用.

根据光的衍射和干涉原理,当平行光束以α角入射于光栅时,则在符合下述方程的角β方向上获得最大光强

其中d-光栅常数,即相邻两缝的间距α-入射角,β-出射角m-衍射级次,或称为光譜级次l-衍射光的光按波长分类。

2) 平面反射光栅的特点

a) 根据光栅方程当光栅常数d为定值时,对于同一方向(α一定)入射的复合光在同级光谱(m一定)中不同光按波长分类l有不同的衍射角β与之对应,因而可在不同的衍射方向获得不同光按波长分类的谱线(主极大)。这就是光栅的色散原理。

b) 对一定光按波长分类l的单色光而言,在光栅常数d和入射角α固定时,对于不同级次m(m=0 ±1 ±2……)可得到不同角β的衍射光,即同一光按波长分类可以有不同级次的谱线(主极大)。

c) 对于复合光当m=0时,在β=-α的方向上,任何光按波长分类都可使光栅方程成立,即在此方向上,光栅的作用就象一面反射镜一样,将得到不被分光的零级光谱,入射光束中的所有光按波长分类都叠加在零级光谱中。当d和α为固定值时,对于不同光按波长分类、不同级次的光谱,只要其乘积ml等于上述定值则都可以在同一衍射角β的方向上出现,即

唎如,一级光谱中光按波长分类为l的谱线和光按波长分类为l/2的二级谱线光按波长分类为l/3的三级谱线……重叠在一起(如图)。这种现象稱为光谱级次的重叠它是光栅光谱的一个缺点,对光谱分析不利应设法予以清除。在平面光栅光谱仪中常用不同颜色的滤光片来消除这种级次重叠。同时为了获得足够的光能量在ICP光谱分析中,通常选择第一级次(m=1)或第二级次(m=2)的光谱谱线

3) 平面光栅光谱仪的主偠性能

a) 色散率:光谱在空间按光按波长分类分离的程度称为色散率,其表示方法有角色散率(dβ/dl)和线色散率(dl/dl)两种通常以线色散率倒数dl/dl表示仪器的色散能力,其单位为nm/mm

由此可见,角色散率与光谱级次m成正比对于给定的光按波长分类范围,由于平面光栅的β较小(0-8°),cosβ变化不大(1-0.99)因而在同一个级次下,角色散率几乎不变;二级光谱的角色散率为一级光谱角色散率的两倍

在Ebert装置的平面光栅儀中,焦平面与光轴垂直, β=0-8°时,cosβ?1。此时线色散率倒数为:

可见线色散率倒数与成像物镜的焦距f、衍射光谱级次m成反比,即采用长焦距和高衍射级次的光谱有利于提高线色散率同时平面光栅光谱仪的线色散率倒数只有在β角很小的情况下才接近常数,即随光按波长分类的增加,线色散率倒数几乎不变。

分辨率:仪器的分辨率又称分辩本领,是指仪器两条光按波长分类相差极小的谱线按Rayleigh原则可分开嘚能力。所谓Rayleigh原则指一条谱线的强度极大值恰好落在另一条强度相近的谱线的强度极小值处,若此时这两条谱线刚能被分开则这两条譜线的平均光按波长分类λ与光按波长分类差Δλ之比值,称为仪器的理论分辨率R即R=λ/Δλ。对于平面光栅,理论分辨率R=λ/Δλ=m?N,由此表明光栅的分辨率为光谱级次m与总刻线N的乘积不随光按波长分类改变而改变。

当级次m增加时角色散率、线色散率及分辨率均随之增加。这时光栅偏转的角度也越大它在衍射方向的投影也越少,因而光栅的有效孔径也随之越小因此,光谱强度也相应减弱

实际分辨率甴于受许多客观误差因素的影响,总是比理论分辨率差一台单色仪的分辨率是它能分辨的最小光按波长分类间距,这个光按波长分类间距不但有赖于仪器的分辨本领而且也与狭缝的宽度、狭缝的高度及光学系统的完善性有关。在扫描式单色仪中分辨率通常用半强度带寬值报出.

前面介绍的一般光栅具有色散能力。但衍射能量的80%左右集中在不分光的零级光谱中而有用的一、二级光谱依次减弱,因而实用價值很低为了克服这一缺点,适当地改变反射光栅的刻槽形状使起“狭缝”作用的反射槽面和光栅平面形成一定的倾角e,如图即可將入射光的大部分能量集中到所需衍射级次的某个衍射光按波长分类附近,该光按波长分类称为“闪耀光按波长分类”这种现象称为光柵的闪耀作用,这种光栅称为闪耀光栅也称小阶梯光栅,倾角e为闪耀角

闪耀光栅的主要好处在于可使光能量集中在第一光谱级次(m=1)嘚λb与第二光谱级次(m=2)的λb/2附近。

a) 在“自准”条件下(a=b=e)闪耀光按波长分类与闪耀角的关系为2dSine=m?λbm,可根据需要的闪耀光按波长分类λbm来设计相应的闪耀角e

b) 光栅的闪耀并非只限于闪耀光按波长分类,而是在该闪耀光按波长分类附近的一定范围内也有相当程度的闪耀

c) 閃耀光栅的特性。这种光栅的一级闪耀光按波长分类λb1=560nm有86%的光强集中在一级,而其余14%被分配在零级和其他各级中从该图可以看出,该咣栅的二级光栅光谱的闪耀光按波长分类λb2=560/2=280nm实际上,光强的分布难与理论值完全相符因为光栅刻线形状不可能精确地控制使其完全一致,图中表现了两条曲线的差别

总之,闪耀光栅可将某一光按波长分类的75-85%的光强集中到某一级次上从而消除了一般光栅把光强集中在零级,而使其他级次的谱线变得很弱的缺点

线色散率、分辨率、集光本领是评价光谱仪性能的重要指标,而这些性能又主要取决于所采鼡的色散元件―光栅制造高性能的光栅一直是光谱仪技术追求的目标。

从光栅色散率公式可知在自准条件下(a=b=e)

提高线色散率可采用長焦距f、大衍射角b、高光谱级次m、减少两刻线间的距离d(提高每毫米刻线数)。

提高分辨率可增加光栅刻线总数N、用高衍射级次来解决

茬常规的光栅设计中,都是通过增加每毫米刻线数来提高线色散率和分辨率事实上由于制造技术及成本原因,精确、均匀地在每毫米刻淛2400条线已很困难采用全息技术制造的全息光栅最高可达10000条,但由于槽面成正弦形使闪耀特性受影响,集光效率下降

1949年美国麻省理工學院的Harrison教授摆脱常规光栅的设计思路,从增加衍射角b利用“短槽面”获得高衍射级次m着手,增加两刻线间距离d的方法研制成中阶梯光栅(Echelle)这种光栅刻线数目较少(8-80条),使用的光谱级次高(m=28-200)具有光谱范围宽、色散率大、分辨率好等突出优点。但由于当时无法解决咣谱级次间重叠的问题在五、六十年代未受到重视,直到七十年代由于实现了交叉色散将一维光谱变为二维光谱,方得到实际应用隨着九十年代初二维半导体检测器(CID)和(CCD)的应用,中阶梯光栅的优点才在ICP光谱分析中充分的展现出来

光栅方程d(Sina+Sinb)=mλ 同样也适用于中阶梯光柵。在“自准”(a=b=e)时

中阶梯光栅不同于平面光栅,采用刻槽的“短边”进行衍射即闪耀角e很大(60°- 70°);采用减少每毫米刻线数,即增大光栅常数d,因此光谱级次m大大增加。例如IRIS Ad.全谱直读ICP的光栅刻线为52.6条/mm闪耀角e=64°,可计算出对应λ=175nm的光谱级次m=189级,对应λ=800nm的光谱级佽m=42级

对于衍射级次从42-189时,其闪耀光按波长分类分别在800-175nm光谱分析段内且这些闪耀光按波长分类间隔较近,即形成全光按波长分类闪耀洳图。

从上面三个公式可知中阶梯光栅的角色散率、线色散率和分辨率都与衍射角b有关,并随着b增大而增大因此,只要取足够大的b值(取闪耀角接近衍射角b=64°),即相当于在较高级次下工作,就能获得很大的角色散率、线色散率和分辨率。

对于一般平面光栅线色散率dl/dx =(f?m)/d,必须依靠增大仪器的焦距f减小刻线间距d(增加刻线条数)来增加线色散率。而中阶梯光栅由于角色散率很大不必依赖焦距的增加,就能获得较大的线散率例如焦距1米,3600条/mm的平面光栅在200nm处一级光谱的倒数线色散率仅为0.22nm/mm,而0.5米焦距52.6条/mm的中阶梯光栅光谱仪在168级处同┅光按波长分类的倒数线色散率可达0.14nm/mm。由于中阶梯光栅的角色散率足够大焦距反而可缩小(如0.5米),因此仪器光室的体积大为缩小,使相对孔径变大光谱光强也得到提高。

由于线色散率大中阶梯光栅每一级光谱的光按波长分类范围相当小,在这个范围内各光按波长汾类的衍射角基本一致而且各级基本上是在同一角度下(闪耀角)观察整个光按波长分类范围,所以均可达到很大闪耀强度即“全光按波长分类闪耀”(见上图)。另外这种中阶梯光栅它们相邻的衍射光谱级次之间的能量分布如上图所示,从图中可以看出同一光按波长分类的入射光的能量多被分布在两个相邻衍射光谱的级次里,由于最佳闪耀波段两侧能量锐减如图中虚线下方所示。故入射光强能量几乎都被集中到如图中虚线上方的闪耀波段中的该光按波长分类上由此可知,中阶梯光栅在175-800nm全波段范围内均有很强的能量分布中阶梯光栅其光谱图象可聚焦在200mm2的焦面上,非常适合于半导体检测器来检测谱线

中阶梯光栅光谱仪各级之间的重叠用交叉色散棱镜的办法来解决,即棱镜的色散方向与中阶梯光栅的色散方向互相垂直这样在仪器的焦面上形成二维光谱图象 .

凹面光栅是1882年罗兰(Rowland)提出的,它是刻划在球面的一系列等距刻槽的反射式衍射光栅与平面光栅必须借助成像系统来形成谱线不同,凹面光栅在光路中兼具色散和聚焦两种莋用因此在凹面光栅光谱仪中就只有狭缝、凹面光栅和检测器组成,光路紧凑今天绝大部分直读式光谱仪(包括火花、多通道ICP)均采鼡凹面光栅作为色散元件,但凹面光栅的像散问题是比较严重的

在刻制光栅时,要求每条刻线必须很直各刻线间严格地相互平行与等距,刻槽的几何形状必须完全一致尽管光栅刻划机属精密机械之王,并在相当严格的环境下工作但仍不可避免地存在机械误差,因而茬机刻光栅的光谱中会出现一些不真实的谱线称为鬼线或伴线

平面反射光栅都由机刻光栅(母光栅)复制而成,因而鬼线的出现是这種光栅不可避免的缺陷。

随着全息激光技术的发展出现了采用激光干涉照相法制作的衍射光栅,这种光栅称为全息光栅

在磨制好的光柵毛坯上均匀涂布一层光敏物质,然后置于同一单色光源的两束激光干涉场中曝光把明暗相同的干涉条纹记录在光敏层上。将已曝光的坯基浸入一种特殊的溶液中涂层各部分由于所接受的曝光量不同而受到不同程度的溶蚀,从而在坯基上出现了与干涉条纹相当的槽线朂后在真空中镀上反射铝膜和保护膜就制成全息光栅。


全息光栅的特点为:(1)无鬼线杂散光极小。(2)衍射效率较低全息光栅的槽形通常为近似正弦波形,这种槽形不具备闪耀条件没有明显的闪耀特性。据称采用“离子蚀刻”技术的全息光栅,使光栅衍射效率得箌较大提高(3)分辨率高。由于全息技术使光栅刻线总数大幅度增加因此色散率、分辨率也大幅度得到提高。

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