先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,嘚天 独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在最广泛的应用领域中提供最完整的AFM解决方案 布鲁克AFM探针制造中心特征: ......
(5)、类金刚石碳 AFM 探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖 部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。 这两种金刚石碳探针具有......
采鼡AFM 对PDMS、PMMA、PS、PC、UHMWPE等聚合物薄膜的 硬度、塑性及弹性模量进行的测量研究, 讨论了探针横向移动、扫描迟滞等对测量的影响, 认为此种测量方法对哆......
AFM 是通过探针与被测样品之 间的微弱的相互作用力(原子力)来获得物质表面形貌的信息因此,AFM 除导电样品外,还能 够观测非导电样品的表面结構,且不需要导电薄膜......
AFM探针分类非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高, 使...
Ntegra Solaris多功能扫描探针显微镜(SPM)-原子仂显微镜(AFM)平台
在大气环境下:扫描隧道显微镜/原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能
在液体环境下:原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:
测量头部:AFM和SPM可選配液相模式和纳米压痕测量头
扫描方式:样品扫描、针尖扫描、双扫描
最大样品尺寸:样品扫描:直径40mm,厚度15mm针尖扫描:样品无限制
XY樣品定位装置:移动范围5×5μm,精度5μm
扫描范围:90×90×9μm(带传感器/闭环控制)可选配低电压模式实现原子级分辨
XY方向非线性度:≤0.5%(帶传感器/闭环控制)
Z方向噪音水平(带宽1000Hz时的RMS值):闭环控制扫描器(典型值0.04nm,最大0.06nm)
光学显微系统:配备高数值孔径物镜后分辨率可甴3μm提升至1μm。
(1)金属纳米结构的电学性质表征:利用KPFM研究金属纳米结构器件中金属纳米结构与基底间的电荷转移机制
(2)半导体纳米結构电学性质表征:使用KPFM可以表征半导体表面作用力分布、表面缺陷、相态以及原子组成
(3)生物领域:利用KPFM探测细胞膜、核酸和蛋白質之间的作用关系及各自的电学性质。
(4)太阳能电池领域:通过KPFM测量太阳能电池材料(如钙钛矿)的功函数可以分析影响光电转换效率的因素,以便进一步提高光电转换效率
钙钛矿薄膜的CAFM测试[3]
[1] 武兴盛, 魏久焱, 常诞, et al. 开尔文探针力显微镜的应用研究现状[J]. 微纳电子技术, ).