如何获得椭圆偏振光光谱仪厂家哪家好

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&&&产品信息 &&&
&&&SC630全自动椭圆偏振光谱仪
产地:郑州
最小起订量:1台
发货地:本地
发布时间:
郑州南北仪器设备有限公司
经营模式:生产加工
公司类型:私营独资企业
所属行业:实验仪器
主要客户:中国
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SC630全自动椭圆偏振光谱仪价格优惠,专业生产销售厂家:郑州南北仪器设备有限公司(南北设备集团),南北通过向客户提供领先的产品性能来追求椭偏仪行业第一领先地位SC630型全自动椭圆偏振光谱仪是单色仪分光连续波长、入射角自动控制的全自动椭圆偏振光谱仪。仪器采用国际上特有的高稳定度的移相器大大提高了仪器测量的灵敏度,消除了整个波长范围的椭偏角度测量盲点。宽范围、高精度的入射角自动控制系统极大满足了用户分析错综复杂样品的检测和分析需求。既可以适合于各科研院所对介电、半导体、金属、有机物等各种材料的光学特性、结构特征、生长过程和材料质量的快速测试,也可以对更多未知材料开展研究工作。0-360°度测量Delta参数图谱性能参数:型号SC630VSC630UVSC630UVN光源氙灯氙灯氙灯波长范围350-850 nm250-1100 nm250-1700 nm波长精度1 nm1 nm1 nm光斑直径1-3 mm1-3 mm1-3 mm入射角范围20° to 90°,自动控制20° to 90°,自动控制20° to 90°,自动控制入射角控制精度0.01°0.01°0.01°椭偏参数准确性tg(Psi)≤0.003cos(Delta)≤0.00001tg(Psi)≤0.003cos(Delta)≤0.00001tg(Psi)≤0.003cos(Delta)≤0.00001样品台尺寸&O160 mm&O160 mm&O160 mm主要特点:1.移相器的应用消除了全波段范围内的测量盲点2.宽范围、高精度入射角度控制为用户提供了全方位的探索和研究需求3.只需轻松点击鼠标即可到需要的入射角4.强大的数据分析功能5.允许用户自定义色散模型6.全波长多角度同时数据拟合,EMA模型用于多成分化合物和表面粗糙度分析7.具有实验数据和模拟数据三维绘图功能选配件:1.CCD线阵列探测元件2.样品显微镜3.高稳定性消色差补偿器4.透射测量架5.XY移动样品台郑州南北仪器设备有限公司专业供应生产销售椭偏仪,欢迎您来电咨询椭偏仪的详细信息! 南北集团售后服务宗旨:●向用户提供持续、高效、快捷的服务,构建优质服务品牌; ●建立完善的服务网络,向用户提供专业化、标准化、多元化,产品化服务;●以用户为中心,以用户满意度作为衡量一切工作的标准;南北集团售后服务宗旨:●终身提供维修及维护服务,终身负责零配件的及时供应;●终身免费提供技术咨询及技术支持服务;●新品依照南北购销合同实行整机免费保修, ●在保修期内,不收取上门费,搬运费,人工费等,免费更换一切在正常使用情况下损坏的零配件;●在保修期外,不收取上门费,搬运费,人工费等,仅对需更换的零配件收取成本费用;南北集团具有完善的售后服务保障体系,覆盖国内各市县区的售后服务网络,产品使用期间凡发生质量问题,只需拨打南北集团售后服务热线,后续的故障确认,技术指导,上门服务,定期回访都有我南北集团售后服务体系完成。郑州南北仪器设备有限公司(南北设备集团)南北通过向客户提供领先的技术、产品,更为优异的质量和服务,更高的性价比价值体来追求椭偏仪行业第一领先地位郑州南北仪器设备有限公司(南北设备集团)&南北服务热线:400-098 -6966&客服电话:8,,,,,客服手机:公司传真:6网站地址: 公司邮箱: 地址:中国.郑州市、北环路72号邮政编码:450000
郑州南北仪器设备有限公司
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本企业的产品目录椭圆偏振仪 - HORIBA
中国&|&China
, November 6-11, Nashville, TN , November 27-December 2, Boston, MA
椭圆偏光法是一种光学的、可以精确表征薄膜、表面和界面的无损测量技术。椭圆偏振光谱仪主要用于测量薄膜的厚度(从1? 到 30um) 和光学常数(n,k)。独一无二的技术,具备先进的薄膜表征能力,能提供最高灵敏度和精度的测量。
查看相关产薄膜沉积与刻蚀过程的高精度、高速度监测和控制。
&&查看相关产品新技术:薄膜厚度和光学常数的一键式测量!
&查看相关产品专为显示装置产业设计的系统,能处理第七代显示衬底。
&查看相关产品DeltaPsi2 是基于通用图形用户界面(GUI)开发的新一代软件。设计目标是提供一个用户与仪器之间的直观而全面的交互。这个多任务处理软件具备极佳的多功能性,能用于离位和原位的配置并能驱动全自动椭偏仪。
&获取更多信息椭圆偏振光谱仪
椭圆偏振光谱仪
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椭圆偏振仪型号:Horiba UVISEL-2技术指标:主要用于膜厚以及折射率、消光系数等光学常数的测量测量范围:190-2100nm测量薄膜厚度:小于10nm相位调制:50KHz PEM调制自动平台扫描成像主要功能:是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于并不与样品接触,对样品没有破坏且不需要真空。可测的材料包括:半导体、电介质、聚合物、有机物、金属、多层膜物质。可以应用于半导体、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科研、生物、医药等领域。&& 上传我的文档
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