求助DFT两阶段供应链插入occ后断链问题

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2017-08-11 06:50 标签： 区块链发展阶段
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贴数:9&分页:robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Thu Dec 19 23:13:18 2013), 站内 && 之前兼职做了几颗芯片的DFT，pattern仿真没有问题，但回来的片子总有一条链在机台上不能正常输出，其他链子和pattern正常匹配。有没有懂DFT的童鞋帮忙分析下？
SYN和SCAN用的是RC，ATPG用的是TetraMAX，仿真用NC和VCS都跑过，没发现问题，链子的IO也没有压缩过。有问题的链子输出是毛刺，毛刺峰值电压也不对。我想知道这是否是逻辑问题导致的？还是Timing有问题。我不懂DFT算法，一直以为DFT的链子之间是有联系的，如果其中一条错，其他链子不可能都是对的啊。
-- && ※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 114.88.217.*]
robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: Re: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Fri Dec 20 09:25:24 2013), 站内 && 兼职是指公司内部的兼职，哈哈，我就知道大家都很寂寞。
你的意思是如果不是菊花链，扫描链是相互独立互不影响的？这样DFT算法能保证检测到电路中组合或者时序电路的问题？那我理解错了。蛋疼啊这出来的东西都不是正常逻辑，又没别人配合，不知道该怎么往下查了。 && 【 在 fwsn 的大作中提到: 】
: 有毛刺直接找毛刺的原因就行了。
: 内部扫描的扫描链是分成独立的N条的。
: 并不在同一个链上，当然如果你想它们还能组成同一条链也行。就象jtag的菊花链一样
: ...................
※ 修改:·robberpk 于 Dec 20 09:37:19 2013 修改本文·[FROM: 27.115.5.*]
※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 27.115.5.*]
robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: Re: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Fri Dec 20 09:27:35 2013), 站内 && 谢谢你的建议，下次有机会试试，主要没专门研究过DFT，不知道有错怎么debug。
另外想问一下，按你的经验看，这种死一条链的主要问题会是什么？所有片子的现象都一样，而且不是同一批wafer。 && 【 在 majorplus 的大作中提到: 】
: 铜球兼职
: 死一条链太正常不过了，造全1，全0,之类的pattern分析吧
※ 修改:·robberpk 于 Dec 20 09:31:02 2013 修改本文·[FROM: 27.115.5.*]
※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 27.115.5.*]
robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: Re: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Fri Dec 20 14:55:18 2013), 站内 && 工具是如何保证这个fault只在一条链上传播的，而其他链没影响的？比如某个fault发生的逻辑后面driven了2个reg，而这2个reg分别属于不同的chain。
我以前以为其他链也会受到这个fault影响，最后再根据多条链的输出，去确定fault的位置等。 && 【 在 fwsn 的大作中提到: 】
: 扫描链的目的，是为了DFT算法工作时，给寄存器赋值，保证能利用这个值去激活和传播
: 故障。所以，就真的是一个链而已。
: ...................
※ 修改:·robberpk 于 Dec 20 15:18:18 2013 修改本文·[FROM: 27.115.5.*]
※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 27.115.5.*]
robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: Re: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Fri Dec 20 16:13:11 2013), 站内 && 我是觉得不保证，但我不太懂DFT的算法的，所以我假设了如果有fault，不应该每个批次的wafer都是同样的结果，甚至是mask不同都还是那条chain。关键有问题的chain输出都没有正常电平，没法capture，但其他chain都是好的，包括function。
你说的shift in/shift out已经死掉是什么意思？怎么死掉的？内部Timing不对？从片外shift in的时候Timing就没对齐？ && 【 在 abwc 的大作中提到: 】
: 不保证吧，碰运气？
: 逻辑问题可以拿fault的结果去做fault sim啊，看看是不是死在哪了？
: ...................
&& -- && ※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 27.115.5.*]
robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: Re: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Fri Dec 20 16:55:38 2013), 站内 && 功能类似的片子，mask不一样的，ATPG产生的pattern肯定也不一样咯，用各自的pattern测的。现象一样。
没有OCC。不过我让机台的测试员降速跑，没效果。 && 【 在 eeGG 的大作中提到: 】
: 你几块片子都是这个pattern有问题还是咋的？
: 是occ吗？
: ...................
&& -- && ※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 27.115.5.*]
robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: Re: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Fri Dec 20 18:22:07 2013), 站内 && 是直接在wafer上扎针的，想测多少测多少，所以当然多片啦，都是一样的情况，刨除那些function确实不对的。
我说的mask不一样是指芯片功能有区别，但芯片整体架构，IO什么都差不多的，是不同的full mask。 && 【 在 eeGG 的大作中提到: 】
: 样片只有一片？？
: 看不懂。
※ 修改:·robberpk 于 Dec 20 18:28:06 2013 修改本文·[FROM: 27.115.5.*]
※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 27.115.5.*]
robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: Re: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Mon Dec 23 10:13:52 2013), 站内 && 谢谢各位，后面如果找到问题，我把问题原因发上来
-- && ※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 27.115.5.*]
robberpk发信人: robberpk (robberpk), 信区: METech
标&&题: Re: [问题]DFT问题
发信站: 水木社区 (Mon Dec 23 14:49:01 2013), 站内 && 这种逻辑控制导致的不正常，ATPG的仿真应该直接可以查出来的吧。应该不是这个问题 && 【 在 xjj 的大作中提到: 】
: 哈哈，以前出的一个问题是用register 去控制pad 的输入输出了，
: 结果导致scan 不正常了。
:&& && -- && ※ 来源:·水木社区 ·[FROM: 27.115.5.*]
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