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超声波方法分类
1.按检测方法原理：分为脉冲反射法、衍射时差法、穿透法和共振法；
2.按波型：分为纵波、横波、表面波、板波和爬波；
3.按显示方法：A显示和超声成像显示；
4.按耦合方式：分为直接接触法、液浸法和电磁耦合法；
5.按探头个数：分为单探头法、双探头法和多探头法；
6.按人工干预程度：手工检测和自动检测。
检测方法原理
按检测方法原理可以分为：
①脉冲反射法（缺陷回波法、底波高度法、多次底波法）；
②衍射时差法；
③穿透法；
④共振法。
常规检测应用最多的是脉冲反射法中的缺陷回波法，衍射时差法（TOFD）是目前大力推广的一种对缺陷检测有较高捡出率的可连续记录的超声检测技术。穿透法较少应用。共振法只在老式测厚仪中用过，目前不再采用。
脉冲反射法
缺陷回波法
利用缺陷反射波的幅度和位置来评价缺陷（定位、定量），操作简便，灵敏度高。
底波高度法
依据底波高度变化来判断工件中缺陷大小的方法。
采用的方法有：F／BF法、 F／BG法、 BG／BF法 。
特点是：不存在盲区，同样投影大小的缺陷可以得到同样的指示。
a)要求检测面与底面平行；
b)不能对缺陷准确定量；
c)检测灵敏度低；
d)对于倾斜的缺陷，小而密集的缺陷、吸收的缺陷用BG／BF（锻件、钢板缺陷的评定采用的方法）。
多次底波法
依据多次底波变化的情况来判断工件中有无缺陷的方法。
当透入试件的超声波能量较大，而试件厚度较小时，超声波可在探测面与底面之间往复传播多次，示波屏上出现多次底波B1、B2、B3……。如果试件存在缺陷，则由于缺陷的反射以及散射而增加了声能的损耗，底面回波次数减少，同时也打乱了各次底面回波高度依次衰减的规律。可用于材质晶粒度和石墨化程度的评定。
衍射时差法（TOFD）
是一种依靠从待检工件内部缺陷上、下“端点”处得到的衍射波在扫描线上的时差来检测缺陷尺寸的方法。通常使用纵波斜探头，采用一发一收的模式。
a)无缺陷：发射超声波→接收（直通波→底面反射波→变形波等）。
b)有缺陷：发射超声波→接收（直通波→上端点衍射波→下端点衍射波→底面反射波→变形波等。）
TOFD显示：A扫描信号＋TOFD图象
1）仪器：单通道(≤50mm)或多通道、具有数据连续自动采集、记录、显示和分析功能。
2）探头：采用小晶片、大扩散角（3－20mm,45～700）；高频率（1～15MHz）；宽频带、窄脉冲。
缺陷埋藏深度的测定
可以通过直通波和底面反射波的位置来求出波速C和探头的延时t0,这种方法有助于减小因对称性偏差引起的误差。
注：直通波的时间：
底面反射波的时间：
将上述公式转换：即可求出声速c和探头在斜楔中的延时t0
TOFD扫查方式
TOFD图象是将每个A扫描信号显示成一维图象线条，位置对应声程、灰度对应幅度；将若干A扫描信号图象线条沿探头移动方向拼成二维图象；一个轴表示探头移动距离，另一个轴表示扫查面至底面的深度。以上构成TOFD图象。
a)近表面裂纹
b)中间未焊透
c)根部未焊透
d)侧壁未熔合
f)横向裂纹
g)根部内凹
TOFD检测的优点
a)可靠性好。由于衍射信号不受声束角度影响，任何方向的缺陷都能有效发现。国外通过试验对缺陷检出率的评价是：
手工UT:40－60％；RT-γ:55～60% RT-X:55～65%
UT机械:55－85％;TOFD:75－85％；机械+TOFD:80－95％
b)定量精度高。采用衍射时差技术对缺陷定量，精度远远高于常规手工超声波检测。一般认为，对线性缺陷或面积型缺陷，TOFD定量误差小于1mm。对裂纹和未熔合缺陷高度测量误差通常只有零点几毫米。
c)TOFD检测简便快捷。最常用的非平行扫查只需一人即可以操作，探头只需沿焊缝两侧移动即可，不需做锯齿扫查，检测效率高，操作成本低。
d)TOFD图象包含丰富的信息，有利于缺陷的识别和分析。
e)能够全过程记录，长久保存数据。
TOFD检测的局限性
a)对近表面缺陷的检测可靠性不够:对上表面缺陷，可能隐藏在直通波下而漏检，该区域缺陷即使被检出其测量精度也不高。对下表面缺陷，其信号有可能被底面反射信号淹没而漏检。
b)对缺陷定性比较困难:TOFD技术比较有把握区分上表面开口、下表面开口及埋藏缺陷，但不能准确判断缺陷性质。
c)TOFD图像识别和判读比较难:数据分析需要丰富的经验。
d)对粗晶材料，如奥氏体焊缝检测比较困难，信噪比较低。
e)横向缺陷检测比较困难。
f)复杂几何形状的工件检测比较困难。
g)点状缺陷的尺寸测量不够准确。
探头在工件两对侧一发、一收，利用缺陷遮挡声束的多少来判断缺陷的大小。
缺陷不能定位，检测灵敏度低、小缺陷易漏捡。
无盲区，可探测薄的工件，传播路径短、衰减
当工件的厚度是入射波l/2的整数倍时，发生共振。用于工件厚度测量（老式测厚仪）。
特点：波长l大，衰减小、穿透能力强、可检测厚度大，并能对粗晶材料进行检测。
纵波直探头：检测平行于表面或与表面倾角很小方向的缺陷。适用于钢板、锻件、铸件等的检测。
纵波斜探头：入射角＜αI(27.60)
a)小角度纵波斜探头（特点是检测深度大，探头移动范围小）用于检测螺栓、螺柱的齿根裂纹，多层包扎环焊缝的缺陷。
b）K1 纵波斜探头（或K1聚焦 纵波斜探头）可用来检测奥氏体不锈钢焊缝，用K1点聚焦 纵波斜探头易于激发端点衍射，可用于裂纹测高。
5MHz 8.50 (K1.5)纵波斜探头检测螺拄齿根裂纹：
特点：波长l小，衰减快、穿透能力差、不适用粗晶材料。
产生方法：aII＞入射角aL＞aI
a)直接接触法：入射角aL应在57.70 ～27.60之间
b)水浸法：入射角aL应在14.50 ～27.270之间
应用：斜入射，检测与表面有一定倾角方向的缺陷。用于焊缝和钢管的检测，以及厚的钢板和锻件的辅助检测。
特点：在表面2l内传播，遇到表面不连续的部位（开口裂纹、棱边）会产生反射、波形转换等。
产生方法：
a)Y切石英法：可以两个方向发射,通常用阻尼材料衰减其中一个方向。
b)纵波折射法：
有机玻璃/钢：αi=620～640 (由于近场长度不超出楔块长度，不影响检测)
应用：表面开口裂纹高度测定
a)强度法：反射回波随深度增加而升高，只适用裂纹深度小于2λ的情况。
①单探头法：
②双探头法：
应用中的有关问题：
a)扫描比例1：1
调试方法：
b)频率选用5MHz；耦合剂多采用甘油或较粘的机油。
c)检测灵敏度调节：将距40mm棱边波调到基准波高－21dB相当于长6.5mm、高0.1mm平面裂纹。
d)表面较厚的油层、污物 、铁锈、水垢、以及 粗糙的表面均会造成表面波的严重衰减。因此表面光洁度比一般的检测方法要高一些，露出金属光泽，并用有机溶剂擦干净。
特点：在薄板、薄管内传播。充塞整个工件，可以发现内部和表面缺陷。捡出灵敏度取决于仪器工作条件和板波的形式。
产生方法：
应用：主要用于薄板（≤6mm），薄壁管等形状简单的工件捡测。
应用中的有关问题：
1）检测距离大时，应选择以纵波成分为主的板波型；
2）捡测复合板粘结不良时，应选择以横波成分为主的板波波型；
3）板上油、水使板波衰减增大，因此水浸法捡测时应选择以纵波成分为主的板波波型（群速接近纵波的波型）。
特点：沿工件表面下一定距离处在横波和表面纵波之间传播的峰值波称为纵向头波或爬波。或者简单说，叫表面下纵波（且有一定的横波分量）。波速在圆弧面上≈0.96纵波速度。
爬波受工件表面的刻痕、不平整、凹陷，以及油滴干扰较小，因此有利检测粗糙表面下的缺陷。
产生方法：当纵波以第一临界角27.60附近，±30以内入射，即可获得爬波。
应用：主要用于铸件、堆焊层等的表面下裂纹，以及螺栓拄根部裂纹检测。
应用中的有关问题：
1）通过选择探头的f.D值可以改变对表面附件缺陷的敏感程度， f.D大，探测深度小。
2）爬波离开探头后衰减很快，P∝1/X4，检测距离只有几十毫米，通常采用双探头布置。
A 型显示和超声成像
是一种波形显示，用直角坐标的纵坐标代表幅度，横坐标代表时间。
分为B、C、D、S、P显示等。
① B显示：纵截面显示
②C显示：横截面（投影）显示
③D显示：侧截面显示
④ P显示： C显示＋ D显示在焊缝检测上应用的 商品化成像系统。
相控阵和S扫描
a)基本原理：超声相控阵检测是一种多声束扫描成像技术。检测探头是由多个晶片组成的阵列，通过控制对各阵元触发脉冲的时间延时，改变各阵元发射声波到达某点的相位关系，就可实现声束聚焦点和声束方位的变化，从而进行扫描成像。
b)相控阵探头：由多个小晶片组成，其每一个晶片均可独立激发。探头晶片阵元的形式有线阵和环形面阵两种。
c)相控阵仪器：与探头阵元数相匹配的多通道检测仪，由软件控制触发脉冲的延时、相位。
d)声束偏转：改变每个阵元（小晶片）延时间隔,使得其合成波阵面具有一定倾角，实现声束偏转。
e)声束聚焦：使两端的阵元先触发，逐渐向中央延时触发，其合成的波阵面就具有一定的曲率，并指向圆心，实现了聚焦；改变延时时间就可以调整聚焦远近。
直接接触法
探头与工件之间有一层薄薄的耦合剂（d<<l/4），最佳压力为10～20N时耦合稳定，效果好。
特点：操作简便、灵敏度高、适用于手工操作。
缺点：探头易磨损，工件表面粗糙度应控制在6.3μm 以内。
a)分类：全浸式；局部液浸式（喷液式、通水式、满溢式）。
b)特点：耦合稳定（不受工件表面粗糙度的影响）；探头不会磨损；盲区小（水钢界面波的宽度小于始脉冲宽度）；
声能损失较大、水钢界面声压透过率只有20％，水浸检测时必须提高检测灵敏度约10dB。调整探头的入射角，可获得任意角度的横波，由于声束扩散，常使用水浸聚焦探头。加表面活性剂润湿工件，必要时，适当对水加热，去除水中的气泡，防止杂波。
电磁耦合（EMAT）
利用电磁超声探头激发和接收超声波的技术。
原理：基于铁磁材料在磁化的过程中（磁畴之间的界限发生移动而产生机械变形）产生磁致伸缩效应－发射超声波；反之，当外力作用，使铁磁性材料磁化强度变化的现象称为逆磁致伸缩效应－接收超声波。
电磁超声的激发和接收：
电磁超声检测的特点：
a)探头不用与工件接触，不需要耦合剂，因此对工件表面要求低，粗糙表面不必进行处理。
b)探头与工件有一定距离，可进行高温在线检测。
c)检测速度快，适用连续生产线自动化检测。
d)缺陷检出灵敏度低于常规超声检测。
探头的数目
用一个单探头发射和接收超声波。优点：操作简便；可检测出大多数缺陷。缺点：盲区较大，如果收不到回波缺陷将漏检。
一个单探头发射，另一个单探头接收。对单探头检测可能产生漏检的补充。
a)并列：可发现与检测面倾斜的缺陷。
b)交叉：可发现与检测面垂直的缺陷（如焊缝检测横向缺陷）。
V串－可发现与检测面平行的缺陷；
K串－可发现与检测面垂直的缺陷；
前后串－可发现与检测面垂直的缺陷（如厚焊缝的未焊透和坡口未熔合）。
用于多通道检测仪，多个探头交替工作，相当于多个单通道检测仪，如：钢板自动化检测、相控阵检测等。
按人工干预程度
按人工干预程度
操作简便；受操作者影响大:技术水平、责任心、情绪；检测结果的可靠性和重复性差。
能够自动记录探头位置和有关检测数据或有能够固定探头进行自动扫除的装置均称为自动检测。国外自动超声检测技术有逐渐替代射线检测的趋向。
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关于探头盲区问题
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当探头晶片直接接触工件时，会存在近表面探测盲区，看了一些资料（百度文库-超声波检测的盲区,双探头检测的盲区）说由以下原因造成：
1探头余震 2壳体余震 3电路干扰
我想知道，当探头连接一个楔块的时候，为什么还在有工件近表面探测盲区呢，我个人认为这时候盲区是停留在了楔块里面。
真实姓名杨亚男
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延迟块和工件的接触面会有界面反射，这个反射波会有一定的持续时间，所以这就会造成表面盲区。
一般认为双晶探头没有盲区或盲区极小。
我们都是在孤单中执著行走的孩子！
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个人认为，你说的盲区有点倾向于近场区的概念。理论上讲，加了楔块，在楔块中分担了一部分近场区，从而导致工件中的近场区减小。
但是所谓的盲区是指：对于单晶的自发自收的探头，盲区是由于始脉冲的宽度对仪器阻塞的现象，简单的理解，单晶自发自收探头，发射始脉冲会干扰接受的缺陷的脉冲从而导致盲区存在。在超声检测仪器我们可以看到有一段始脉冲，这个始脉冲影响的深度就应该是所谓的盲区，存在这个脉冲中的缺陷是不能被发现的。通常双晶探头或者一发一收的探头盲区很小就是这个原因。因此不管你加不加楔块盲区还是存在的。
个人愚见，请前辈指教！
呵呵，谢谢夸奖，我仅仅知道一点浅薄的概念。您也非常好学！&
为人民服务的专业知识很扎实！&
学好技术，天天向上！
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反正记住盲区是时间的概念就行了
真实姓名宋振
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相控阵、TOFD、超声波、
本帖最后由 假面 于
18:28 编辑
盲区多数指直探头盲区，就是始脉冲宽度，和阻塞时间的总和，斜探头不考虑
健康身体是基础，良好学风是条件，勤奋刻苦是前提，学习方法是关键，心理素质是保证。
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个人认为，你说的盲区有点倾向于近场区的概念。理论上讲，加了楔块，在楔块中分担了一部分近场区，从而导致 ...
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以前把近场区和盲区混淆了，今天学习了&&
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上课怎么听得，盲区是你姐夫讲的。
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教材中提到盲区=脉冲宽度+阻塞时间，你提到探头的余震就是脉冲的宽度，余震持续时间长，脉冲宽度也就宽，晶片后面的阻尼块就是起到迅速减弱余震的作用，其目的就是为了消除余震，减小脉冲宽度，脉冲宽度小了，2个脉冲之间的干扰就小了，盲区也就小了，阻塞时间说实话我自己理解的也不深，等待高手解答！
居住地四川省 成都市 金牛区
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阻塞时间就是探头从激发模式切换到接收模式所需要的时间吧，
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无损检测超声波试题 (UT)一、是非题 1.1 受迫振动的频率等于策动力的频率。 1.2 波只能在弹性介质中产生和传播。 1.3 由于机械波是由机械振动产生的，所以波动频率等于振动频率。 1.4 由于机械波是由机械振动产生的，所以波长等于振幅。 1.5 传声介质的弹性模量越大，密度越小，声速就越高。 1.6 材料组织不均匀会影响声速，所以对铸铁材料超声波探伤和测厚必须注意这一问题。 1.7 一般固体介质中的声速随温度升高而增大。 1.8 由端角反射率试验结果推断，使用 K≥l.5 的探头探测单面焊焊缝根部未焊透缺陷，灵敏度较低，可能造成漏检。 1.9 超声波扩散衰减的大小与介质无关。 1.10 超声波的频率越高，传播速度越快。 1.11 介质能传播横波和表面波的必要条件是介质具有切变弹性模量。 1.12 频率相同的纵波，在水中的波长大于在钢中的波长。 1.13 既然水波能在水面传播，那么超声表面波也能沿液体表面传播。 1.14 因为超声波是由机械振动产生的，所以超声波在介质中的传播速度即为质点的振动速度。 1.15 如材质相同，细钢棒(直径&λ=与钢锻件中的声速相同。 1.16 在同种固体材料中，纵、横渡声速之比为常数。 1.17 水的温度升高时，超声波在水中的传播速度亦随着增加。 ，其声速都随温度的升高而减小。 1.18 几乎所有的液体（水除外） 1.19 波的叠加原理说明，几列波在同一介质中传播并相遇时，都可以合成一个波继续传播。 1.20 介质中形成驻波时，相邻两波节或波腹之间的距离是一个波长。 1.21 具有一定能量的声束，在铝中要比在钢中传播的更远。 1.22 材料中应力会影响超声波传播速度，在拉应力时声速减小，在压应力时声速增大，根据这一特性，可用超声波测量材料的内应力。 1.23 材料的声阻抗越大，超声波传播时衰减越大。 1.24 平面波垂直入射到界面上，入射声压等于透射声压和反射声压之和。 1.25 平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量与反射能量之和。 1.26 超声波的扩散衰减与波型，声程和传声介质、晶粒度有关。 1.27 对同一材料而言，横波的衰减系数比纵波大得多。 1.28 界面上入射声束的折射角等于反射角。 1.29 当声束以一定角度入射到不同介质的界面上，会发生波形转换。 1.30 在同一固体材料中，传播纵、横波时声阻抗不一样。 1.31 声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数，温度变化对材料的声阻抗无任何影响。 1.32 超声波垂直入射到平界面时，声强反射率与声强透射率之和等于 1。 1.33 超声波垂直入射到异质界面时，界面一侧的总声压等于另一侧的总声压。 1.34 超声波垂直入射到 Z2&Zl 的界面时，声压透过率大于 1．说明界面有增 强声压的作用。1 1.35 超声波垂直入射到异质界时，声压往复透射率与声强投射率在数值上相等。 1.36 超声波垂直入射时，界面两侧介质声阻抗差愈小，声压往复透射率愈低。 1.37 当钢中的气隙（如裂纹）厚度一定时，超声波频率增加，反射波高也随着增加。(0 1.38 超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的反射角等于折射角。 1.39 超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的折射角总大于入射角。 1.40 超声波以 10。角入射至水／钢界面时，反射角等于 10。 。 。 1.41 超声波入射至钢／水界面时，第一临界角约为 14.5。 1.42 第二介质中折射的横波平行于界面时的纵波入射角为第一临界角。 1.43 如果有机玻璃／铝界面的第一临界角大于有机玻璃／钢界面第一临界角，则前者的第二临界角也一定大于后者。 1.44 只有当第一介质为固体介质时，才会有第三临界角。 1.45 横波斜入射至钢，空气界面时，入射角在 30*左右时，横声压反射率最低。1.46 超声波入射到 C1&C2 的凹曲面耐，其透过波发散。 1.47 超声波入射到 C1&C2 的凸曲面时，其透过波集聚。 1.48 以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头，有机玻璃／水界面为凹曲面。 1.49 介质的声阻抗愈大，引起的超声波的衰减愈严重。 1.50 聚焦探头辐射的声波，在材质中的衰减小。 1.51 超声波探伤中所指的衰减仅为材料对声波的吸收作用。 1.52 超声平面波不存在材质衰减。 2.1 超声波频率越高，近场区的长度也就越大。 2.2 对同一个直探头来说，在钢中的近场长度比在水中的近场长度大。 2.3 聚焦探头的焦距应小于近场长度。 2.4 探头频率越高，声束扩散角越小。 2.5 超声波探伤的实际声场中的声束轴线上不存在声压为零的点。 2.6 声束指向性不仅与频率有关，而且与波型有关。 2.7 超声波的波长越长，声束扩散角就越犬，发现小缺陷的能力也就越强。 2.8 因为超声波会扩散衰减，所以检测应尽可能在其近场区进行。 2.9 因为近场区内有多个声压变为零的点，所以探伤时近场区缺陷往往会漏检。 2.10 如超声波频率不变，晶片面积越大，超声波的近场长度越短。 12.11 面积相同，频率相同的圆晶片和方晶片，超声场的近场长度一样长。 2.12 面积相同，频率相同的到晶片和方晶片，其声束指向角亦相同。 2.13 超声场的近场长度愈短，声束指向性愈好。 2.14 声波辐射的超声波的能量主要集中在主声束内。 2.15 声波辐射的超声波，总是在声束中心轴线上的声压为最高。 2.16 探伤采用低频是为了改善声束指向性，提高探伤灵敏度。 2.17 超声场中不同横截面上的声压分布规律是一致的。 2.18 在超声场的来扩散区，可将声源辐射的超声波看成平面波，平均声压不随距离增加而改变。 2.19 斜角探伤横波声场中假想声源的面积大于实际声源面积。 2.20 频率和晶片尺寸相同时，横波声束指向性比纵波好。 2.21 圆晶片斜探头的上指向角小于下指向角。 2.22 如斜探头入射点到晶片的距离不变，入射点到假想声源的距离随入射角的增加而减小。 2.23 200mm 处 Φ4 长横孔的回波声压比 100mm 处由 2 长横孔的回波声压低。 2.24 球孔的回波声压随距离的变化规律与平底孔相同。 2.25 同声程理想大平面与平底孔回波声压的比值随频率的提高而减小。 2.26 轴类工件外圆径向探伤时，曲底面回波声压与同声程理想大平面相同。 2.27 对空心圆柱体在内孔探伤时，曲底面回波声压比同声程大平面低。 3.l 超声波探伤中，发射超声波是利用正压电效应，接收超声波是利用逆压电效应。1 3.2 增益 l00dB 就是信号强度放大 100 倍。 3.3 与锆钛酸铅相比，石英作为压电材料有性能稳定、机电耦合系数高、压 电转换能量损失小等优点。 3.4 与普通探头相比，聚焦探头的分辨力较高。 3.5 使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。 3.6 点聚焦探头比线聚焦探头灵敏度高。 3.7 双晶探头只能用于纵波检测。 3.8 B 型显示能够展现工件内缺陷的埋藏深度。 3.9 C 型显示能展现工件中缺陷的长度和宽度，但不能展现深度。 3.10 通用 AVG 曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离，适用于不同规格的探头。 3.11 在通用 AVG 曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。 3.12 A 型显示探伤仪，利用 D.GS 曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度。3.13 电磁超声波探头的优点之一是换能效率高，灵敏度高。 3.14 多通道探伤仪是由多个或多对探头同时工作的探伤仪。 3.15 探伤仪中的发射电路亦称为触发电路。 3.16 探伤仪中的发射电路亦可产生几百伏到上千伏的电脉冲去激励探头晶片振动。 3.17 探伤仪的扫描电路即为控制探头在工件探伤面上扫查的电路。 3.18 探伤仪发射电路中的阻尼电阻的阻值愈大，发射强度愈弱。 3.19 调节探伤仪“深度细调”旋钮时，可连续改变扫描线扫描速度。 3.20 调节探伤仪“抑制”旋钮时，抑制越大，仪器动态范围越大。 3.21 调节探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。 3.22 不同压电晶体材料中声速不一样，因此不同压电材料的频率常数也不相同。 3.23 不同压电材料的频率常数不一样，因此用不同压电材料制作的探头其标称频率才能相同。 3.24 压电晶片的压电应变常鼓(d33)大，则说明该晶片接收性能好。 3.25 压电晶片的压电电压常敷（g33）大，刚说明该晶片接收性能好。 3.26 探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因素 Qm，减少机械能损耗。1 3.27 工件表面比较租糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。 3.28 斜探头楔块前部和上部开消声槽的目的是使声波反射回晶片处，减少声能损失。 3.29 由于水中只能传插纵波，所以水浸探头只能进行纵波探伤。 3.30 双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远复盖区愈大。 3.31 有机玻璃声透镜水浸聚焦探头，透镜曲率半径愈大，焦距愈大。 3.32 利用 IIW 试块上 Φ50mm 孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。 3.33 当斜探头对准 IIW2 试块上 R5 曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的。 3.34 中心切槽的半圆试块，其反射特点是多次回波总是等距离出现。 3.35 与 IIW 试块相比 CSK-IA 试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。 3.36 调节探伤仪的“水平”旋钮，将会改变仪器的水平线性。 3.37 测定仪器的“动态范圈”时，应将仪器的“抑制”、“深度补偿”旋钮置于“关”的位置。 3.38 盲区与始波宽度是同一概念。 3.39 测定组合灵敏度时，可先调节仪器的“抑制”旋钮，使电噪声电平≤l0%，再进行测试。 3.40 测定“始波宽度”对，应将仪器的灵敏度调至最大。 3.41 为提高分辨力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得低一些。 3.42 在数字化智能超声波探伤仪中，脉冲重复频率又称为采样频率。 3.43 双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。 3.44 温度对斜探头折射角有影响，当温度升高对，折射角将变大。 3.45 日前使用最广泛的测厚仪是共振式测厚仪。 3.46 在钢中折射角为 60 的斜探头，用于探铡铝时，其折射角将变大。 3.47 “发射脉冲宽度”就是指发射脉冲的持续时间。。03.48 软保护膜探头可减少粗糙表面对探伤的影响。 3.49 脉冲反射式和穿透式探伤，使用的探头是同一类型的。 3.50 声束指向角较小且声柬截面较窄的探头称作窄脉冲探头。 4.1 在液浸式检测中，返回探头的声能还不到最初值的 1%。 4.2 垂直探伤时探伤面的粗糙度对反射波高的影响比斜角探伤严重。 4.3 超声脉冲通过材料后，其中心频率将变低。 4.4 串列法探伤适用于检查垂直于探测面的平面缺陷。 4.5 “灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好。4.6 所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。 4.7 当量法用来测量大干声束截面的缺陷的尺寸。 4.8 半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。 4.9 串列式双探头法探伤即为穿透法．4.10 厚焊缝采用串列法扫查时，如焊缝余高磨平，则不存在死区。 4.11 曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好。 4.12 实际探伤中，为提高扫查速度减少杂波的干扰，应将探伤灵敏度适当降低。 4.13 采用当最法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸。 4.14 只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。 4.15 绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时，测长灵敏度高，测得的缺陷长度大。 4.16 当工件内存在较大的内应力时，将使超声被的传播速度及方向发生变化。 4.17 超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高。 5.1 钢板探伤时，通常只根据缺陷波情况判定缺陷。 5.2 当钢板中缺陷大于声束截面时，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出现“叠加效 应”。 5.3 厚钢板探伤中，若出现缺陷的多次反射波，说明缺陷的尺寸一定较大。 5.4 较薄钢板采用底波多次法探伤时，如出现“叠加效应”，说明钢板中缺陷尺寸一定很大。 5.5 复合钢扳探伤时，可从母材一侧探伤，也可从复合材料一侧探伤。 5.6 用板波法探测厚度 5mm 以下薄钢板时，不仅能检出内部缺陷，同时能检出表面缺陷。 5.7 钢管水浸聚焦法探伤时，不宜采用线聚焦探头探测较短缺陷。 5.8 采用水浸聚焦探头检验钢管时，声透镜的中心部分厚度应为 k／2 的整数倍。 5.9 钢管作手工接触法周向探伤时，应从顺、逆时针两个方向各探伤一次。 5.10 钢管水浸探伤时，水中加入适量活性剂是为了调节水的声阻抗，改善透声性。 5.11 钢管水浸探伤时，如钢管中无缺陷，荧光屏上只有始波和界面波。 5.12 用斜探头对大口径钢管作接触法周向探伤时，其跨距比同厚度平板大。 6.1 对轴类锻件探伤，一般来说以纵波直探头从径向探测效果最佳。 6.2 使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时，探头应尉正反两个方向扫查。 6.3 对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。 6.4 调节锻件探伤灵敏度的底波法，其含义是锻件扫查过程中依据底波变化情况评定锻件质量等级。 6.5 锻件探伤中，如缺陷引起底波明显下降或消失时，说明锻件中中存在较严重的缺陷。 6.6 锻件探伤时，如缺陷被探伤人员判定为白点．则应按密集缺陷评定锻件等级。 6.7 铸钢件超声波探伤，一般以纵波直探头为主。 7.1 焊缝横波探伤中，裂纹等危害性缺陷的反射波辐一般很高。 7.2 焊缝横渡探伤时，如采用直射法，可不考虑结构反射，变型波等干扰同波的影响。 7.3 采用双探头串列法扫查焊缝时，位于焊缝深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出现在荧光屏上同一位置。 7.4 焊缝探伤所用斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其 K 值将变小。 7.5 焊缝横波探伤时常采用液态耦合剂，说明横渡可以通过液态介质薄层。 7.6 当焊缝中的缺陷与声束成一定角度时，探测频率较高时，缺陷回波不易被探头接收。 7.7 窄脉冲聚焦探头的优点是能量集中，穿透力强，所以适合于奥氏体钢焊缝检测。1 7.8 一股不采用从堆焊层一侧探测的方法检测堆焊层缺陷。 7.9 铝焊缝探伤应选用较高频率的横波专用斜探头。 7.10 裂缝探伤中，裂纹的回波比较尖锐，探头转动时，波很快消失。 二、选择题 1.1 以下关于谐振动的叙述-哪一条是错误的（ A、谐振动就是质点在作匀速圆周运动。 B、任何复杂振动都可视为多个谐振动的合成 C、在谐振动中，质点在位移最大处受力最大，速度为零。 D、在谐振动中，质点在平衡位置速度最大，受力为零。 1.2 以下关于阻尼振动的叙述，哪一条是错误的（ A、阻尼使振动物体的能量逐渐减小。 B、阻尼使振动物体的振幅逐渐减小。 ） ）C、阻尼使振动物体的运动速率逐渐减小。 D、阻尼使振动周期逐渐变长． 1.3 超声波是频率超出入耳听觉的弹性机械波，其频率范围约为： （ A、高于 2 万赫芝 B、1―10MHz C、高于 200Hz ）D、0.25～15MHz ） D 大于 20000MHz（ 1.4 在金属材料的超声波探伤中，使用最多的频率范围是： A、10～25MHz B、l～10001KHz ） C、1～5MHz1.5 机械波的波速取决于（ A、机械振动中质点的速度 C、机械振动中质点的振动频率B、机械振动中质点的振幅 D、弹性介质的特性1.6 在同种固体材料中，纵波声速 CL．横渡声速 Cs,表面波声速 Cn 之间的关系是： （ ） B、Cs&CL&CR C、CL&Cs&CR D、以上都不对 ）A、CR&Cs&CL1.7 在下列不同类型超声波中，哪种渡的传播速度随频率的不同而改变？（ A、表面波 B、板波 C、疏密波 D、剪切波 ）1.8 超声波入射到异质界面时，可能发生（ A、反射 B、折射 C、渡型转换D、以上都是 ）有关。 C、超声波波型 D、以上全部 ）有芙？1.9 超声波在介质中的传播速度与（ A、介质的弹性 B 介质的密度1.10 在同一固体材料中，纵、横渡声速之比，与材料的（ A、密度 B、弹性模量 C、泊松比D、以上全部 ）1.11 质点振动方向垂直于波的传播方向的波是（ A、纵波 B、横波 C、表面波 ） D、兰姆波1.12 在流体中可传插： （ A、纵波 B、横波C、纵波、横波及表面波D、切变波 ）（ 1.13 超声纵波、横波和表面波速度主要取决于： A、频率 B、传声介质的几何尺寸C、传声材料的弹性模量和密度 （ 1.14 板波的速度主要取决于： A、频率D、以上都不全面，须视具体情况而定 ）B、传声介质的几何尺寸 D、以上都不全面，须视具体情况定 ）C、传声材料的弹性和质量1.15 钢中超声波纵波声速为 590000cm/s，若频率为 10MHz 则其波 K 为： （ A、59mm C、0.59mm B、5.9mm D、2.36mm ）1.16 下面哪种超声波的波长最短（ A、水中传播的 2MHz 纵波 B、钢中传播的 2.5MHz 横波 C、钢中传播的 5MHz 纵波 D、钢中传播的 2MHz 表面波1.17 一般认为表面波作用于物体的深度大约为（ A、半个波长 B、一个波长） D、3.7 个波长 ）C、两个波长1.18 钢中表面波的能量大约在距表面多深的距离会降低到原来的 1/25。 （ A、五个波长 B、一个波长 C、1/10 波长 D、0.5 波长 ）1.19 脉冲反射法超声波探伤主要利用超声波传播过程中的（ A、散射特性 B、反射特性 C、透射特性 ）D、扩散特性1.20 超声波在弹性介质中传播时有（ A、质点振动和质点移动B、质点振动和振动传递C、质点振动和能量传播D、B 和 C ）1.21 超声波在弹性介质中的速度是（ A、质点振动的速度B、声能的传播速度 D、以上都不是 ）C、波长和传播时间的乘积（ 1.22 若频率一定，下列哪种波型在固体弹性介质中传播的波长最短： A、剪切波 B、压缩波 C、横渡 D、瑞利表面波 ）1.23 材料的声速和密度的乘积称为声阻抗，它将影响超声波（ A、在传播时的材质衰减 B、从一个介质到达另一个介质时在界面上的反射和透射 C、在传播时的散射 1.24 声阻抗是： （ A、超声振动的参数 C、传声介质的参数 D、扩散角大小 ） B、界面的参数 D、以上都不对1.25 当超声纵波由水垂直射向钢时，其透射系数大于 1，这意味着： （ A、能量守恒定律在这里不起作用 B、透射能量大于入射能量 C、A 与 B 都对 D、以上都不对）1.26 当超声纵波由钢垂直射向水时，其反射系数小于 0，这意味着： （ A、透射能量大于入射能量 B、反射超声波振动相位与入射声波互成 180。 C、超声波无法透入水中 D、以上都不对 ））1.27 垂直入射于异质界面的超声波束的反射声压和透射声压： （ A、与界面二边材料的声速有关 B、与界面二边材料的密度有关 C、与界面二边材料的声阻抗有关 D、与入射声波波型有关 1.28 在液浸探伤中，哪种波会迅速衰减： （ A、纵波 B、横波 C、表面波 ）D、切变波 ）1.29 超声波传播过程中，遇到尺寸与波长相当的障碍物时，将发生（ A、只绕射，无反射 C、只反射无绕射 B、既反射又绕射 D、以上都可能1.30 在同一固体介质中，当分别传播纵、横波时，它的声阻抗将是（ A、一样 B、传播横波时大 D、无法确定）C、传播纵波时大1.31 超声波垂直入射到异质界面时，反射波与透过波声能的分配比例取决于（ A、界面两侧介质的声速 C、界面两侧介质的声阻抗 B、界面两侧介质的衰减系数 D、以上全部 ））1.32 在同一界面上，声强透过率 T 与声压反射率 r 之间的关系是（ A、T=r2B、T=1-r2C、T= 1+rD、T=1-r ）1.33 在同一界面上-声强反射率 R 与声强透过率 T 之间的关系是（ A、R+T=I B、T=1-R C、R=1-T D、以上全对1.34 超声波倾斜入射至异质界面时，其传播方向的改变主要取决于（ A、界面两侧介质的声阻抗 C、界面两侧介质衰减系数 A、反射波波型 C、界面两侧的声阻抗 B、界面两侧介质的声速 D、以上全部 B、入射角度 D、以上都是）1.37 一般地说，如果频率相同，则在粗晶材料中穿透能力最强的振动波型为（ A、表面波 C、横波 B、纵波 D、三种波型的穿透力} ））1.38 不同振动频率，而在钢中有最高声速的波型是： （ A、0.5MHz 的纵波 C、10MHz 的爬波 B、2.5MHz 的横波 D、5MHz 的表面波1.39 在水／钢界面上，水中入射角为 17。 ，在钢中传播的主要振动波型为（ A、表面波 B、横波 C、纵波 D、B 和 C ））1.40 当超声纵波由有机玻璃以入射角 15 射向钢界面时，可能存在（ A、反射纵波 B、反射横波 D、以上都有C、折射纵波和折射横渡1.41 如果将用于钢的 K2 探头去探测铝（CFe=3.23km/s,CAl=3.10km/s)则 K 值会（ A、大于 2 C、仍等于 2 B、小于 2 D、还需其它参数才能确定 ） 。） 。1.42 如果超声纵波由水以 20 。入射到钢界面，则在钢中横波折射角为（ A、约 48。B、约 24。C、39 ）。D 以上都不对1.43 第一临界角是： （。A、折射纵波等于 90 时的横波入射角 B、折射横渡等于 90 时的纵波入射角 C、折射纵波等于 90 时的纵波入射角 D、入射纵波接近口 0 时的折射角 1.44 第二临界角是： （。 。 。 。）A、折射纵波等于 90 时的横波入射角 B、折射横波等于 90 时的纵波入射角 C、折射纵波等于 90 时的纵波入射角 D、入射纵波接近 90。 。 。对的折射角 ）1.45 要在工件中得到纯横波，探头入射角 α 必须： （ A、大于第二临界角 B、大于第一临界角 D、小于第二临界角C、在第一、第二临界角之间1.46 一般均要求斜探头楔块材料的纵波速度小于被检材料的纵波有可能： （ A、在工件中得到纯横波 C、实现声束聚焦。）B、得到良好的声束指D、减少近场区的影响 ）1.47 纵波以 20 入射角自水入射至钢中，下图中哪一个声束路径是正确的？（1.48 用入射角为 52 的斜探头探测方钢，下图中哪一个声束路径是正确的？（。）1.49 直探头纵波探测具有倾斜底面的锻钢件，下图中哪一个声束路径是正确的？（）1.50 第一介质为有机玻璃(CL=2700m/s)，第二介质为铜(CL=4700m/s;Cs=2300m/s),则第Ⅱ临界角为（）1.5l 用 4MHz 钢质保护膜直探头经甘油耦合后，对钢试件进行探测，若要得到最佳透声效果，其耦台层厚度为（甘油 CL=1920m／s） （ A、1.45mm B、0.20mm C、0.7375mm D、0.24mm ））1.52 用直探头以水为透声楔块使钢板对接焊缝中得到横检测，此时探头声束轴线相对于探测面的倾角范围为： （ A、14 7 ～27 .7 C、27.2 ～56.7。 。 。B、62.3 ～75.3 D、不受限制。。。1.53 有一不锈钢复合钢板，不锈钢复合层声阻抗 Z1，基体钢板声阻抗 Z2，今从钢板一侧以 2.5MHz 直探头直接接触法探测，则界面上声压透射率公式为： （）1.54 由材质衰减引起的超声波减弱 db 数等于： （ A、衰减系数与声程的乘积 B、衰减系数与深度的乘积 C、e-?s（? 为衰减系数，s 为声程） D 以上都不对）1.55 超声波（活塞波）在非均匀介质中传播，引起声能衰减的原因是： （ A、介质对超声波的吸收 C、声束扩散 B、介质对超声波的散射）D、以上全部 ）1.56 斜探头直接接触法探测钢板焊缝时，其横波： （ A、在有机玻璃斜楔块中产生 C、在有机玻璃与耦合层界面上产生 D、在耦合层与钢板界面上产生B、从晶片上直接产生1.57 制作凹曲面的聚焦透镜时，若透镜材料声速为 C1，第二透声介质声速为 C2，则两者材料应满足如下关系： （ A、C1&C2 B、C1&C2 C、CI=C2 D、Z1=Z2 ））1.58 当聚焦探头声透镜的曲率半径增大时，透镜焦距将： （ A、增大 B、不变 C、减小 D 以上都不对 ）（ 1.59 平面波在曲界面上透过情况，正确的图是：1.60 以下关于板波性质的叙述，哪条是错误的（）A、按振动方向分，板波可分为 SH 波和兰姆波，探伤常用的是兰姆波 B、板渡声速不仅与介质特性有关，而且与板厚、频率有关 C、板波声速包括相速度和群速度两个参数 D、实际探伤应用时，只考虑相速度．无须考虑群速度 1.61 由材料晶粒粗大而引起的衰减属于（ A、扩散衰减 B、散射衰减 ） D、以上都是C、吸收衰减1.62 与超声频率无关的衰减方式是 A A、扩散衰减 B、散射衰减 C、吸收衰减 D、以上都是 ）（ 1.63 下面有关材料衰减的叙述，哪句话是错误的； A、横渡衰减比纵波严重 B、衰减系数一般随材料的温度上升而增大 C、当晶粒度大干波长 1/10 时对探伤有显著影响 D、提高增益可完全克服衰减对探伤的影响2.1 波束扩散角是晶片尺寸和传播介质中声波波长的函数并且随（ A、频率增加，晶片直径减小而减小 B、频率或晶片直径减小而增大 C、频率或晶片直径减小而减小 D、频率增加，晶片直径减小而增大）2.2 晶片直径 D=20mm 的直探头，在钢中测得其零幅射角为 10。 ，该探头探测频率约为： （ A、2.5MHz B、5MHz C、4MHz D、2MHz ））2.3 直径中 12mm 晶片 5MHz 直探头在钢中的指向角是： （ A、5.6° B、3.5° C、6.8° D、24.6° ）2.4 Φ14mm，2.5MHz 直探头在钢中近场区为： （ A、27mm B、21mm C、38mmD、以上都不对 ） D、以上都不对 ）2.5 上题探头的非扩散区长度约为： （ A、35mm B、63mm C、45mm2.6 在非扩散区内大平底距声源距离增大 l 倍，其回波减弱（ A、6db B、12db C、3db D、0db22.7 利用球面波声压公式（P= PoπD ／4λ）得到的规则反射体反射声压公式应用条件是： （ A、S≥2N 近似正确 C、S≥6N 正确 B、S≥3N 基本正确 D、以上都对 ））2.8 在超声探头远场区中： （A、声束边缘声压较大 C、声束边缘与中心强度一样B、声束中心声压最大 D、声压与声束宽度成正比 ）2.9 活塞波声场，声束轴线上最后一个声压极大值到声源的距离称为（ A、近场长度 B、未扩散区 C、主声束 D、超声场 ） D、5P14Z ）2.10 下列直探头，在钢中指向性最好的是（ A、2.5P20Z B、3P14Z C、4P20Z2.11 下面有关扩散角的叙述-哪一条是错误的（ A、用第一零辐射角表示 C、与指向角相同 B、为指向角的一半D、是主声束辐射锥角之半 ）2.12 超声场的来扩散区长度（ A、约等于近场长度 C、约为近场长度 1.6 倍B、约等于近场长度 0.6 倍 D、约等于近场长度 3 倍 ） C、球面波 D、以上都不对 ）2.13 远场范围的超声波可视为（ A、平面波 B、柱面波2.14 在探测条件相同的情况下面积比为 2 的两个平底孔，其反射波高相差（ A、6dB B、12dB C、9dB D、3dB2.15 在探测条件相同的情况下，孔径比为 4 两个球形人工缺陷，其反射波高相差（ A、6dB B、l2dB C、24dB D、8dB）2.16 在探测条件相同的情况下，直径比为 2 的两个实心圆柱体，其曲底面同波相差（ A、12dB B、9dB C、6dB D、3dB ；）2.17 外径为 D，内径为 d 的实心圆柱体，以相同的灵敏度在内壁和外圆探测，如忽略耦合差异，则底波高度比为（）2.18 同直径的平底孔在球面波声场中距声源距离增大 1 倍则回波减弱： （ A、6db B、12db C、3db D、9db）2.19 同直径的长横孔在球面波声场中距离声源距离增大 1 倍回波减弱（ A、6db B、12db C、3db D、9db ））（ 2.20 在球面波声场中 B 平底距声源距离增大 I 倍回波减弱： A、6db B、12db C、3db D、9db ）（ 2.21 对于柱面波，距声源距离增大 1 倍，声压变化是： A、增大 6db B、减小 6db C、增大 3db D、减小 3db 2.22 对于球面波，距声源距离增大 1 倍，声压变化是： （ A、增大 6db B、减小 6db C、增大 3db D、减小 3db 2.23 比 Φ3mm 平底孔回波小 7db 的同声程平底孔直径是： （ A、Φ1mm B、Φ2mm C、Φ4mm D、Φ0.5mm））2.24 比 Φ3mm 长横孔反射小 7db 的同声程长横孔直径是（ A、Φ0.6mm B、Φ1mm C、Φ2mm D、Φ0.3mm ））2.25 以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点（ A、灵敏度高 C、纵向分辨高 B、横向分辨率高 D、探测粗晶材料时信噪比高2.26 以下叙述中，哪一条不是聚焦探头的缺点（ A、声束细，每次扫查探测区域小，效率低）B、每只探头仅适宜探测某一深度范围缺陷，通用性差 C、由于声波的干涉作用和声透镜的球差，声束不能完全汇聚一点 D、以上都是 3.1 A 型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是： （ ）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向 D、以上都是 ）C、缺陷同波的大小和超声传播的时问 3.2 A 型扫描显示，“盲区”是指： （ A、近场区B、声束扩散角以外区域 D、以上均是 ）C、始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间3.3 A 型扫描显示中，荧光屏上垂直显示大小表示： （ A、超声回波的幅度大小 C、被探材料的厚度 B、缺陷的位置D、超声传播时间 ）3.4 A 型扫描显示中，水平基线代表： （ A、超声回波的幅度大小 C、声波传播时间B、探头移动距离D、缺陷尺寸大小 ）3.5 脉冲反射式超声波探伤仪中，产生触发脉冲的电路单元叫做（ A、发射电路 B、扫描电路 C、同步电路 D、显示电路 ）3.6 脉冲反射超声波探伤仪中，产生时基线的电路单元叫做（ A、扫描电路 B、触发电路 C、同步电路 D、发射电路 ） D、1 伏3.7 发射电路输出的电脉冲，其电压通常可达（ A、几百伏到上千伏 B、几十伏 3.8 发射脉冲的持续时间叫： （ A、始脉冲宽度 B、脉冲周期 ） C、脉冲振幅 ） C、几伏D、以上都不是3.9 探头上标的 2.5MHz 是指： （ A、重复频率 B、工作频率C、触发脉冲频率 ）D、以上都不对3.10 影响仪器灵敏度的旋纽有： （ A、发射强度和增益旋纽 C、深度补偿B、衰减器和抑制 D、以上都是 ）3.11 仪器水平线性的好坏直接影响： （ A、缺陷性质判断 C、缺陷的精确定位B、缺陷大小判断 D、以上都对 ）3.12 仪器的垂直线性好坏会影响： （ A、缺陷的当量比较 C、缺陷的定位B、AVG 曲线面板的使用 D、以上都对 ）3.13 接收电路中，放大器输入端接收的同波电压约有（ A、几百伏 B、100V 左右 C、10V 左右D、0.001～1V ）3.14 同步电路每秒钟产生的触发脉冲数为（ A、l―2 个 B、数十个到数千个 D、以上都不对C、与工作频率相同3.15 调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（ A、垂直线性 B、动态范围 C、灵敏度）D、以上全部 ）3.16 放大器的不饱和信号高度与缺陷面积成比例的范围叫做放放大器的（ A、灵敏度范围 B、线性范围 C、分辨力范围 D、选择性范围3.17 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为： （ A、近场干扰 B、材质衰减 C、盲区 ） D、折射）3.18 同步电路的同步脉冲控制是指： （A、发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数 B、扫描电站每秒钟内重复扫描次数 C、探头晶片在单位时间内向工件重复幅射超声波次数 D、以上全部都是 3.19 表示探伤仪与探头组合性能的指标有： （ ）A、水平线性、垂直线性、衰减器精度 B、灵敏度余量、盲区、远场分辨力 C、动态范阻。―题堂皇！奠搽测瀑度 D、垂直极限、水平极限、重复频率 现晶片接收到的缺陷信号电压为 40mv， 若要使此缺陷以 50%垂直幅度显示， 仪器放大器应有多大增益量？ 3.20 使仪器得到满幅显示时 Y 轴偏转板工作电压为 80V， （ ） B、66dB C、60dB D、80dB ）A、74dB3.21 脉冲反射式超声波探伤仅同步脉冲的重复频率决定着： （ A、扫描长度 B、扫描速度 D、锯齿波电压幅度 ）C、单位时间内重复扫描次数 3.22 压电晶片的基频是： （ A、晶片厚度的函数B、施加的脉冲宽度的函数 D、以上都不对 ） B、与频率宽度成正比 D、以上都不对 ）C、放大器放大特性的函数 3.23 探头的分辨力： （ A、与探头晶片直径成正比 C、与脉冲重复频率成正比3.24 当激励探头的脉冲幅度增大时： （ A、仪器分辨力提高 C、声波穿透力降低B、仪器分辨力降低，但超声强度增大 D 对试验无影响 ）3.25 探头晶片背面加上阻尼块会导致： （ A、Qm 值降低．灵敏度提高 C、Qm 值增大，盲区增大B、Qm 值增大，分辨力提高 D、Qm 值降低，分辨力提高 ）3.26 为了从换能器获得最高灵敏度： （ A、应减小阻尼块B、应使用大直径晶片 D、换能器频带宽度应尽可能大C、应使压电晶片在它的共振基频上激励 （ 3.27 超声试验系统的灵敏度： ）A、取决于探头高频脉冲发生器和放大器 B、取决于同步脉冲发生器 C、取决于换能器机械阻尼 D、随分辨力提高而提高 （ 3.28 换能器尺寸不变而频率提高时： A、横向分辨力降低 C、近场长度增大 ）B、声束扩散角增大 D、指向性变钝 ）3.29 一般探伤时不使用深度补偿是因为它会： （ A、影响缺陷的精确定位 B、影响 AVG 曲线或当量定量法的使用 C、导致小缺陷漏捡 D、以上都不对 3.30 晶片共振波长是晶片厚度的（ A、2 倍 B、1/2 倍 C、l 倍 ） D、4 倍3.31 已知 PZT-4 的频率常数是 2000m/s，2.5MHz 的 PZT-4 晶片厚度约为： （ A、0.8mm B、l.25mm C、1.6mm D、0.4mm ））（ 3.32 在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用： A、硬保护膜直探头 C、大尺寸直探头 B、软保护膜直探头 D、高频直探头 ）3.33 目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是： （ A、石英 B 钛酸钡 C、锆钛酸铅D 硫酸锂3.34 联合双直探头的最主要用途是： （ A、探测近表面缺陷 C、精确测定缺陷高度）B、精确测定缺陷长度 D、用于表面缺陷探伤 ） D 磁性材料3.35 超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料： （ A、导电材料 B 磁致伸缩材料 C、压电材料 ）3.36 下面哪种材料最适宜做高温探头： （ A、石英 C、锗钛酸铅 B、硫酸锂 D、铌酸锂3.37 下面哪种压电材料最适宜制作高分辨率探头： （ A、石英 B 锆钛酸铅 C、偏铌酸铅）D、钛酸钡 ）3.38 下列压电晶体中哪一种作高频探头较为适宜（ A、钛酸钡(CL=5470m/s) C、PZT（CL=4400m/s）B、铌酸锂（CL=7400m/s） D、钛酸铅(CL=4200m/S) ）3.39 表示压电晶体发射性能的参数是（ A、压电电压常数 g33 C、压电应变常数 d33B、机电耦合系数 K D、以上全部 ）3.40 以下关于爬波探头的叙述，哪一条是错误的（ A、爬波探头的外形和结构与横渡斜探头类似B、当纵波入射角大于或等于第二临界角时，在第二介质中产生爬波 C、爬波用于探测表层缺陷 D、爬波探测的深度范围与频率 f 和晶片直径 D 有关。 3.41 窄脉冲探头和普通探头相比（ A、Q 值较小 B、灵敏度较低 ） C、频带较宽 D、以上全部 ）3.42 采用声透镜方式制作聚焦探头时，设透镜材料为介质 1，欲使声束在介质 2 中聚焦，选用平凹透镜的条件是（ A、Zl&Z2 B、C1 &C2 C、C1 &C2 D、Z1&Zz ）3.43 探头软保护膜和硬保护膜相比，突出优点是（ A、透声性能好 B、材质衰减小C、有利消除耦合差异 D、以上全部 ）3.44 以下哪一条，不属于数字化智能超声波探伤仪的优点（ A、检测精度高，定位定量准确 C、可记录存贮信号 B、频带宽，脉冲窄D、仪器有计算和自检功能 ）3.45 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（ A、探测范围大 B、盲区小 D、杂波少C、工件中近场长度小3.46 以下哪一条，不属于双品探头的性能指标（ A、工作频率 B、晶片尺寸 C、探测深度） D、近场长度 ）3.47 斜探头前沿长度和 K 值测定的儿种方法中，哪种方法精度最高： （ A、半圆试块和横孔法 C、直角边法 B、双孔法D、不一定，须视具体情况而定 ） D、分辨力 ）3.48 超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为（ A、检测灵敏度 B、时基线性 C、垂直线性3.49 用以标定或测试超声探伤系统的，含有模拟缺陷的人工反射体的金属块叫（ A、晶体准直器 B、测角器 C、参考试块 ） D、工件（ 3.50 对超声探伤试块材质的基本要求是： A、其声速与被探工件声速基本一致 B、材料中没有超过 Φ2mm 平底孔当量的缺陷 C、材料衰减不太大且均匀 D、以上都是3.51 （CSK-IIA 试块上的 Φl×6 横孔，在超声远场．其反射波高随声程的变化规律与 ）相同。 B、平底孔 C、球孔 D、以上 B 和 C ）A、k 值孔4.1 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（ A、直探头探伤法 C、斜探头探伤法 B、脉冲反射法 D、穿透法4.2 超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（ A、较低频探头 C、软保护膜探头 B、较粘的耦合剂 D、以上都对）4.3 超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（ A、曲面探伤时可减少耦合损失 C、辐射声能大且能量集中）B、可减少材质衰减损失D、以上全部 ）4.4 探伤时采用较高的探测频率，可有利于（ A、发现较小的缺陷 C、改善声束指向性 B、区分开相邻的缺陷 D、以上全部4.5 工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（ A、平面效果最好 C、凸曲面效果最差 B、凹曲面居中 D、以上全部 ））4.6 缺陷反射声能的大小，取决于（ A、缺陷的尺寸 B、缺陷的类型 D、以上全部C、缺陷的形状和取向4.7 声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是： （ ）A、反射波高随粗糙度的增大而增加 B、无影响 C、反射波高随粗糙度的增大而下降 D、以上 A 和 C 都可能 4.8 如果声波在耦合介质中波长为 λ，为使透声效果好，耦合层厚度为（ A、λ/4 的奇数倍 C、小于 λ/4 且很薄 B、λ/2 整数倍 D、以上 B 和 C ） ）4.9 表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（ A、缺陷深度 C、缺陷声程 B、缺陷至探头前沿距离 D、以上都可以4.10 探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度 1：1 调扫描，下面哪种说法正确？（ A、缺陷实际径向深度总是小于显示值 B、显示的水平距离总是大于实际弧长 C、显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小 D、以上都正确 4.11 采用底波高度法（F/B 百分比法）对缺陷定量时，下面哪种说法正确（ A、F/B 相同，缺陷当量相同 C、适于对尺寸较小的缺陷定量 B 该法不能给出缺陷的当量尺寸 D、适于对密集性缺陷的定量 ） ）?）4.12 在频率一定和材料相同情况下，横渡对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是： （ A、横波质点振动方向对缺陷反射有利 C、横波波长短 B、横渡探伤杂波少 D、横波指向性好（ 4.13 采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力： A、1.25MHz B、2.5MHz C、5MHz D、l0MHz）4.14 在用 5MHzΦlO 晶片的直探头作水浸探伤时，水层厚度为 20mm，此时在钢工件中的近场区长度还有： （）A、10.7mmB、1.4mmC、16.3mmD、以上都不对 ）4.15 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果： （ A、小于实际尺寸 C、稍大于实际尺寸 B、接近声束宽度 D、等于晶片尺寸 ）（ 4.16 棱边再生波主要被用于测定： A、缺陷的长度 C、缺陷的位置 B、缺陷的性质 D、缺陷的高度4.17 从 A 型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息。超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法来进行： （ A、精确对缺陷定位 C、测定缺陷的动态波形 B、精确测定缺陷形状 D、以上方法须同时使用 ））4.18 单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是： （ A、来自工件表面的杂波 C、工件上近表面缺陷的回波 B、来自探头的噪声 D、耦合剂噪声 ） D、以上都可以4.19 确定脉冲在时基线上的位置应根据： （ A、脉冲波峰 B、脉冲前沿C、脉冲后沿4.20 用实测折射角 7°的探头探测板厚为 25mm 的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是： （ A、l00mm B、125mm C、l50mm D、200mm）4.21 用 IIW2 调整时间轴，当探头对准 R50 圆弧面时，示波屏上的回波位置（声程调试）应在； （）4.22 能使 K2 斜探头得到图示深度 l：1 调节波形的钢半圆试块半径 R 为（ A、50mm B、60mm C、67mm D、40mm）4.23 在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（ A、水平定能法 B、深度定位法 C、声程定位法 D、一次波法）4.24 在中薄板焊缝斜探头探伤时，宜使用什么方法标定仪器时基线？（ A、水平定位法 B、深度定位法 C、声程定位法 ） D、二次被法）4.25 对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应： （ A、按平板对接焊缝方法 C、使用特殊探头 B、作曲面定位修正D、视具体情况而定采用各种方法 ）4.26 在探测球形封头上焊缝中的横向缺陷时，缺陷定位应： （ A、按平板对接焊缝方法 C、使用特殊探头 B、作曲面修正D、视具体情况决定是否采用曲面修正 ）4.27 在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平扳探伤时所得读数： （ A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能4.28 在筒身内壁作曲面周向探伤，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数（ A、大 B、小 C、相同 D、以上都可艟）4.29 在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平扳探伤时所得读数（ A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能）4.30 在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数（ A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能）4.31 为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用 （ ） B、大 K 值探头 D、高频探头 ）A、小 K 值探头 C、较保护膜探头4.32 在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是： （ A、侧面反射波带来干涉 C、频率太高 B、探头太大，无法移至边缘D、以上都不是 ）4.33 在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是： （ A、提高探头声束指向性 B、校准仪器扫描线性 D、以上都对C、提高探头前沿长度和 K 值测定精度 （ 4.34 当量大的缺陷实际尺寸： A、一定大 B 不一定大 ）C、一定不大 ） C、一定不小D 等于当量尺寸4.35 当量小的缺陷实际尺寸： （ A、一定小 B、不―宝小D、等于当量尺寸 ）（ 4.36 在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越： D、大 B、小 C 不影响 D、不一定 ）（ 4.37 当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越： A、大 B、小 C、无影响 D、不一定 ）4 .38 焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高（A、探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出 B、裂纹表面不光洁对回波强度影响越大 C、杂波太多 D、AB 都对 4.39 厚度为 600mm 的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为 l65?s 若纵波在铝中声速为 6300m/S 则此回波是（ A、底面回波 B、底面二次回波 C、缺陷回波 D、迟到回波 ） ）4.40 直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生： （ A、底面回波降低或消失 C、底面回波变宽 B、底面回波正常D、底面回波变窄4.41 直探头探测厚 100mm 和 400mm 的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为 5db，材质衰减均为 0 01dB／mm（双程） ，今将前者底面回波调至满幅 (100%) 高，则后者的底面回波应是满幅度的： （ A、40% B、20% C、10% ）D、5%4.42 厚度均为 400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正 400／Φ2 灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同， 则： （ ） B、材质衰减大的锻件中缺陷当量小 D、以上都不对 ）A、两个缺陷当量相同C、材质衰减小的锻件中缺陷当量小4.43 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（ A、缺陷回波 B、底波或参考回波的减弱或消失 D、AB 都对 ）C、接收探头接收到的能量的减弱4.4 在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是： （ A、耦合不良 B、存在与声束不垂直的平面缺陷 D、以上都是C、存住与始脉冲不能分开的近表面缺陷4.45 在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是： （）A、与表面成较大角度的平面缺陷 C、AB 都对 D、AB 都不对B、反射条件很差的密集缺陷4.46 影响直接接触法耦合损耗的原因有： （）A、耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗 B、探头接除面介质声阻抗 C、工件被探测面材料声阻抗 D、以上都对 4.47 被检工件晶粒粗大，通常会引起： （ A、草状回波增多 C、底波次数减少 B、信噪比下降 D、以上全部 ） ）4.48 为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法： （ A、使用高声阻抗耦合剂 B、使用软保护膜探头 D、以上都可以C、使用较低频率和减少探头耦合面尺寸4.49 在平整光洁表面上作直探头探伤时宜使用硬保护膜探头，因为这样： （ A、虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声 B、脉冲窄，探测灵敏度高 C、探头与仪器匹配较好 D、以上都对 （ 4.50 应用有人工反射体的参考试块主要目的是： ））A、作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据 B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具 C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证 D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体 （ 4.51 下面哪种参考反射体与入射声束角度无关： A、平底孔 B、平行于探测面且垂直于声束的平底槽 C、平行于探测面且垂直于声束的横通孔 D、平行于探测面且垂直于声束的 V 型缺口 （ 4.52 测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括： A、声束扩散损失 C、工件几何形状影响 B、耦合损耗 D、以上都是 ） ） ）4.53 沿细长工件轴向探伤时，迟到波声程△x 的计算公式是： （4.54 换能器尺寸不变而频率提高时：( A、横向分辨力降低 C、近场区增大)B、声束扩散角增大D、指向性变钝 ）4.55 在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为： （ A、只有当声束投射到整个缺陷反射面上才能得到反射回波最大值 B、只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值 C、只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值 D、人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准 4.56 考虑灵敏度补偿的理由是（ ）A、被检工件厚度太大 C、耦合剂有较大声能损耗B、工件底面与探测面不平行 D、工件与试块材质，表面光洁度有差异 ）4.57 探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用： （ A、声阻抗小且粘度大的耦合剂 C、声阻抗大且粘度大的耦合剂B、声阻抗小且粘度小的耦合剂 D、以上都不是 ）4.58 超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于： （ A、波长的一半 C、四分之一波长 B、一个波长 D、若干个波长4.59 与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是： （ A、单斜探头法 B、单直探头法 D、分割式双直探头法）C、双斜探头前后串列法4.60 探测距离均为 100mm 的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面同波最高。 （ A、与探测面平行的大平底面 B、R200 的凹圆柱底面 C、R200 的凹球底面 D、R200 的凸圆柱底面 4.61 锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（ A、工件中有大面积倾斜缺陷 C、工件中有密集缺陷 B、工件材料晶粒粗大 ））D、以上全部 ）4.62 下面有关“幻象波”的叙述哪点是不正确的（ A、幻象回波通常在锻件探伤中出现 B、幻象波会在扫描线上连续移动 C、幻想波只可能出现在一次底波前 D、降低复重频率，可消除幻象波4.63 下面有关 61°反射波的说法，哪一点是错误的？（ A、产生 61°反射时，纵波入射角与横渡反射角之和为 90°）B、产生 61°反射时，纵波入射角为 61° 横波反射角为 29°。 C、产生 6l°反射时，横渡入射角为 29。 ，纵波反射角为 61° D、产生 61°反射时，其声程是恒定的 4.64 长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（ A、三角反射波 B、61°反射波 C、轮廓回波 D、迟到波 ） ）4.65 方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（ A、平行且靠近探测面 C、与探测面成较大角度 B、与声束方向平行 D、平行且靠近底面 ） C、缺陷取向 ） B、垂直于钢板表面 D、以上全部4.66 缺陷反射声压的大小取决于： （ A、缺陷反射面大小 B、缺陷性质 5.1 钢板缺陷的主要分布方向是： （ A、平行于或基本平行于钢板表面 C、分布方向无倾向性D、以上都可能 ） C、顺波直探头 ） D、聚焦探头5.2 钢板超声波探伤主要应采用： （ A、纵波直探头 B、表面波探头5.3 下面关于钢板探伤的叙述，哪一条是正确的： （ A、若出现缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大 B、无底波时，说明钢板无缺陷 C、钢板中不允许存在的缺陷尺寸应采用当量法测定 D、钢板探伤应尽量采用低频率5.4 钢板厚为 30mm，用水浸法探伤，当水层厚度为 l5mm 时，则第三次底面回波显示于（）A、二次界面回波之前 C、一次界面回波之前B、二次界面回波之后 D、不一定 ）5.5 复合材料探伤，由于两介质声阻抗不同，在界面处有回波出现，为了检查复合层结合质量，下面哪条叙述是正确的： （ A、两介质声阻抗接近，界面回波小，不易检查 B、两介质声阻抗接近，界面回波大，容易检查 C、两介质声阻抗差别大，界面回波大，不易检查 D、两介质声阻抗差别大，界面回波小，容易检查 5.6 探测厚度为 18mm 的钢板，在探伤波形上出现了“叠加效应”，问哪一种说法是正确的： （ A、同大于 20mm 的厚钢板一样，按 F1 评价缺陷 B、因为板厚小于 20mm，按 F2 评价缺陷 C、按最大缺陷回波评价缺陷 D、必须降低灵敏度重新探伤 5.7 探测 T=28mm 的钢板，荧光屏上出现“叠加效应”的波形，下面哪种评定缺陷的方法是正确的？（ A、接缺陷第一次回波(Fl)评定缺陷 B、按缺陷第二次回波(F2)评定缺陷 C、按缺陷多次回波中最大值评定缺陷 D、以上都可以 5.8 下面有关“叠加效应”的叙述中，哪点是正确的（ A、叠加效应是波型转换时产生的现象 B、叠加效应是幻象波的一种 C、叠加效应是钢板底波多次反射时可看到的现象 D、叠加效应是探伤频率过高而引起的 5.9 带堆焊层工件中的缺陷有： （ A、堆焊金属中的缺陷 ） ） ） ）B、堆焊层与母材间的脱层 D、以上三种都有 ）C、堆焊层下母材热影响区的再热裂纹5.10 用水浸聚焦探头局部水浸法检验钢板时，声束进入工件后将（ A、因折射而发散 C、保持原聚焦状况 B、进一步集聚 D、以上都能 ）（ 5.11 无缝钢管缺陷分布的方向有； A、平行于钢管轴线的径向分布 C、平行于钢管表面的层状分布B、垂直于钢管轴线的径向分布 D、以上都可能 ）5.12 小口径钢管超探时探头布置方向为： （ A、使超声沿周向射入工件以探测纵向缺陷 B、使超声沿轴向射入工件以探测横向缺陷 C、以上二者都有 D、以上二者都没有5.13 小口径无缝钢管探伤中多用聚焦探头，其主要目的是： （ A、克服表面曲率引起超声散焦 C、提高探伤灵敏度 B、提高探伤效率）D、以上都对 ）5.14 钢管原材料超探试样中的参考反射体是： （ A、横孔 B、平底孔 C、槽 D、竖孔5.15 管材横波接触法探伤时，入射角的允许范围与哪一因素有关（ A、探头楔块中的纵波声速 C、管子的规格 B、管材中的纵横波声速）D、以上全部 ）5.16 管材周向斜角探伤与板材斜角探伤显著不同的地方是（ A、内表面入射角等于折射角 C、内表面入射角大雨折射角 B、内表面入射角小于折射角 D、以上都可能5.17 管材水漫法探伤中，偏心距 x 与入射角 α 的关系是（ （rR 为管材的内外半径）） 。5.18 管材自动探伤设备中，探头与管材相对运动的形式是（ A、探头旋转，管材直线前进 C、管材旋转，探头直线移动 B、探头静止，管材螺旋前进 D、以上均可 ））5.19 下面有关钢管水浸探伤的叙述中，哪点是错误的（ A、使用水浸式纵波探头 B、探头偏离管材中心线C、无缺陷时，荧光屏上只显示始波和 l～2 次底波 D、水层距离应大于钢中一次波声程的 1／2 5.10 钢管水浸聚焦法探伤中，下面有关点聚焦方法的叙述中，哪条是错误的？（ A、对短缺陷有较高探测灵敏度 B、聚焦方法一般采用圆柱面声透镜 ）C、缺陷长度达到一定尺寸后，回波幅度不随长度而变化 D、探伤速度较慢 5.21 钢管水浸聚焦法探伤时，下面有关线聚焦方式的叙述中，哪条是正确的？（ A、探伤速度轻快 B、回波幅度随缺陷长度增大而增高 ）C、聚焦方法一般采用圆柱面透镜或瓦片型晶片 D、以上全部 5.22 使用聚焦探头对管材探伤，如聚焦点未调到与声束中心线相垂直的管半径上，且偏差较大距离，则会引起（ B、在管中折射发散 D、同波脉冲变宽 ） B、加热，形变 ）A、盲区增大 C、多种波型传播（ 6.1 锻件的锻造过程包括： A、加热形变，成型和冷却 C、形变，成型D、以上都不全面 ）6.2 锻件缺陷包括： （ A、原材料缺陷 C、热处理缺路B、锻造缺陷 D、以上都有 ）6.3 锻件中的粗大晶粒可能引起： （ A、底波降低或消失 C、超声严重衰减B、噪声或杂波增大 D、以上都有 ）6.4 锻件中的白点是在锻造过程中哪个阶段形成： （ A、加热 B、形变 C、成型 D、冷却 ）6.5 轴类锻件最主要探测方向是： （ A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤 D、斜探头外圆面周向探伤 ）C、斜探头外圆面轴向探伤6.6 饼类锻件最主要探测方向是： （ A、直探头端面探伤 C、斜探头端面探伤B、直探头翻面探伤 D、斜探头侧面探伤 ）6.7 筒形锻件最主要探测方向是： （ A、直探头端面和外圆面探伤 C、斜探头外四面周向探伤B、直探头外圆面轴向探伤 D、以上都是 ）6.8 锻件中非金属夹杂物的取向最可能的是： （ A、与主轴线平行 B、与锻造方向一致C、占锻件金属流线一致D、与锻件金属流线垂直 ）6.9 超声波经液体进入具有弯曲表面工件时，声束在工件内将会产生： （A、与液体中相同的声束传播B、不受零件几何形状的影响C、凹圆弧面声波将收敛，凸圆弧面卢波将发散 D、与 C 的情况相反 6.10 锻钢件探测灵敏度的校正方式是： （ A、没有特定的方式 C、采用试块方式 B、采用底波方式 D、采用底波方式和试块方式 ） ）6.11 以工件底面作为灵敏度校正基准，可以： （ A、不考虑探测面的耦合差补偿 C、不必使用校正试块B、不考虑材质衰减差补偿D、以上都是6.12 在使用 2.5MHz 直探头做锻件探伤时，如用 400mm 深底波调整 Φ3mm 平底孔 度，底波调整后应提高多少 db 探伤？（晶片直径 D=14mm） （ A、36.5db B、43.5db C、50db D、28.5db ）6.13 在直探头探伤，用 2.5MHz 探头，调节锻件 200mm 底波于荧光屏水平基线满量 度 10。如果改用 5MHz 直探头，仪器所有旋纽保持不变，则 200mm 底波出现 在 （ ） B、越出荧光屏外 D、须视具体情况而定 ）A、刻度 5 处C、仍在刻度 10 处6.14 化学成份相同，厚度相同，以下哪一类工件超声波衰减最大（ A、钢板 B、钢管 C、锻钢件 D、铸钢件 ）6.15 通用 AVG 曲线的通用性表现在可适用于： （ A、不同的探测频率 B、不同的晶片尺寸 D、以上都是C、不同示波屏尺寸的 A 型探伤仪6.16 大型铸件应用超声波探伤检查的主要困难是： （ A、组织不均匀 C、表面非常粗糙 B、晶粒非常粗 D、以上都对）（ 6.17 锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生： A、无底面回波或底面回波降低 C、声波穿透能力下降）B、难以发现平行探测面的缺陷D、缺陷同波受底面回波影响 ）（ 6.18 利用试块法校正探伤灵敏度的优点是： A、校正方法简单B、对大于 3N 和小于 3N 的锻件都？ D、不必考虑材质差异 ）C、可以克服探伤面形状对灵敏度的影响6.19 下列哪种方法可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力： （ A、用直径较大的探头进行检验 C、将接触法探伤改为液浸法探伤B、在细化晶粒的热处理后检验 D、将纵波探伤改为横波探伤 ）6.20 以下有关锻件白点缺陷的叙述，哪一条是错误的（ A、白点是一种非金属夹杂物B、白点通常发生在锻件中心部位C、白点的回波清晰尖锐往往有多个波峰同时出现 D、一旦判断是白点缺陷，该锻件即为不合格 6.21 在锻件探伤中当使用底面多次回波计算衰减系数时应注意一次底面回波声 （ ） B、大于近场区 D、无甚要求 ）A、大于非扩散区 C、人于 3 倍近场区6.22 锻件超声波探伤时机应选样（ A、热处理前孔槽台阶加工前 C、热处理前孔槽台阶加工后B、热处理后孔曹台阶加工前 D、热处理孔槽台阶加工后 ）6.23 钢锻件探伤中，超声波的衰减主要取决于（ A、材料的表面状态 B、材料晶粒度的影响C、材料的几何形状D、材料对声波的吸收 ）6.24 下面有关用试块法调节锻件探伤灵敏度的叙述中，哪点是正确的。 （ A、对厚薄锻件都适用 C、应作耦合及衰减差补偿 B、对平面和曲面锻件都适用 D、以上全部6.25 用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（ A、可不考虑探伤耦合差补偿 B、缺陷定量可采用计算法或 A.V.C 曲线法 C、可不使用试块 D、缺陷定量可不考虑材质衰减差修正 6.26 用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（ A、底面与探伤面不平行 B、工件内部有倾斜的大缺陷 D、以上全部 ） ））C、工件内部有材质衰减大的部位6.27 锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起（ A、底波降低或消失 C、使声波穿透力降低 B、有较高的“噪声”显示 D、以上全部 ）6.28 铸钢件超声波探伤频率一般选择（ A、0.5-2.5MHZ B、1-5MHZC、2.5-5MHZD D、5-10MHZ ）6.29 锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（ A、边缘效应 B、工件形状及外形轮廓 D、以上全部C、缺陷形状和取向 6.30锻件探伤时．如果用试块比较法对缺陷定量对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（ B、等于当量尺寸 D、以上都可能 ））A、大于当量尺寸 C、小于当量尺寸6.31 下面有关铸钢件探测条件选择的叙述中，哪点是正确的’ （ A、探测频率 5MHz C、晶片尺寸小的探头 B、透声性好粘度大的耦合剂 D、以上全部 ）7.1 通常要求焊缝探伤在焊后 48 小时进行是因为： （ A、让工件充分冷却 B、焊缝材料组织稳定 D、以上都对C 冷裂缝有延时产生的特点7.2 对接焊缝探伤时，在 CSK-IIA 试块上测得数据绘制距离-dB 曲线，现要计入表面补偿 4dB，则应： （ A、将测长线下移 4dB C、三条线同时上移 4dB B、将判废线下移 4dB D、三条线同时下移 4dB ））7.3 焊缝斜角探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了： （ A、缺陷定位 B、缺陷定量 D、以上 A 和 CC、判定结构反射波和缺陷波7.4 采用半圆试块调节焊缝探伤扫描比例时，如圆弧第一次反射波对准时基刻度 2， 则以后各次反射波对应的刻度为（ A、4，6，8，10 B、3，5，7，9 ） C、6，10 D、以上都不对 ）7.5 探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是（ A、提高探铡频率 C、修磨探伤面 B、用多种角度探头探测 D、以上都可以7.6 焊缝斜角探伤时，焊缝中与表面成一定角度的缺陷，其表面状态对回波高度的影响是（ A、粗糙表面回波幅度离 C、光滑表面回波幅度高 B、无影响 D、以上都可能 ））（ 7.7 焊缝斜角探伤时，荧光屏上的反射渡来自： A、焊道 B、缺陷 C、结构 D、以上全部7.8 斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）A、远场效应 C、盲区B、受分辨力影响D、受反射波影响 ）7.9 厚板焊缝斜角探伤时，时常会漏掉： （ A、与表面垂直的裂纹 C、根部未焊透B、方向无规律的夹渣D、与表面平行未熔台 ）7.10 焊缝检验中，对一缺陷环绕扫查，其动态波形包括络线是方形的，则缺陷性质可估 判为（ A、条状夹渣 C、裂纹 B、气孔或圆形夹渣D、以上 A 和 C ）7.11 板厚 100mm 以上窄间隙焊缝作超声检验时，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方法是（ A、斜平行扫查 B、串列扫查 D、交叉扫查 ）C、晶斜探头前后扫查7.12 对圆筒形工件纵向焊缝探伤时，跨距将（ A、增大 B、减小 C、不变D、以上 A 或 B ）7.13 采用双晶直探头检验锅炉大口径管座角焊缝时，调节探伤灵敏度应采用（ A、底波计算法 B、试块法C、通用 A.V.G 曲线法 D、以上都可以 7.14 对有加强高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时．应（ A、保持灵敏度不变 B、适当提高灵敏度 D、以上 B 和 C ） ）C、增加大 K 值探头探测7.15 在厚焊缝单探头探伤中，垂直焊缝表面的表面光滑的裂纹可能： （ A、用 45°斜探头探出 C、用任何探头探出 B、用直探头探出 D、反射讯号很小而导致漏检 ）7.16 在对接焊缝超探时，探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测： （ A、横向裂缝 C、纵向缺陷 B、夹渣 D、以上都对 ）（ 7.17 用直探头探测焊缝两侧母材的目的是： A、探测热影响区裂缝B、探测可能影响斜探头探测结果的分层 D、以上都对 ）C、提高焊缝两侧母材验收标准，以保证焊缝质量 7.18 管座角捍缝的探测一般以哪一种探测为主（ A、纵波斜探头 C、表面波探头 B、横渡斜探头 D、纵波直探头7.19 以下关于管节点焊缝探伤的叙述，哪一点是错误的（ A、宜采用较高频率，一般为 5MHZ B、宜采用大角度斜探头，其中 β=70°探头较好 C、宜采用粘度大的耦合剂，如黄油 D、一般以横渡斜探头从主管探测为主，支管探测为辅 7.20 以下哪一种探测方法不适宜 T 型焊缝（ A、直探头在翼板上扫查探测 B、斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测 C、直探头在腹板上扫查探测 D、斜探头在腹扳上扫查探测 三、问答题 1.1 什么机械振动和机械波？二者有什么关系？ 1.2 什么是振动周期和振动频率？二者有何关系？ ））1.3 什么是谐振动？有何特点？什么叫阻尼振动和受迫振动？三者有何不同？超声波探头中的压电晶片在发射或接收超声波时产生何种振动？ 1.4 什么是弹性介质？同样作为传声介质，固体和液体、气体有哪些不同？ 1.5 什么是波动频率、波速和波长？三者有何关系？1.6 什么是超声波？工业探伤应用的频率范围是多少？在超声波探伤中应用了超声波的哪些主要性质？ 1.7 什么是波线、波阵面和波前？它们有何关系？ 1.8 什么是平面波、柱面波和球面波？各有何特点？实际应用的超声波探头发出的波属于什么波？ 1.9 简述影响超声波在介质中传播速度的因素有哪些？ 1.10 什么是波的叠加原理？叠加原理说明了什么？ 1.11 什么叫波的干涉现象？什么情况下合成振幅最大？什么情况下合成振幅最小？ 1.12 何谓驻波？为什么晶片厚度通常取二分之一波长？ 1.13 何谓绕射（衍射）?绕射现象的发生与哪些因素有关？ 1.14 什么叫超声场？超声场的特征量有哪些？ 1.15 在什么样的异质薄层界面上声压往复透过率最高？ 1.16 什么叫波型转换？波型转换与哪些因素有关？ 1.17 什么叫端角反射？它有何特点？超声波检测单面焊根部未焊透缺陷时，探头 K 值应怎样选择？ 1.18 什么叫超声波的衰减？简述衰减的种类和原因？ 2.1 何谓主声束？何谓指向性？指向性与哪些因素有关？ 2.2 圆盘源活塞波声场可分为哪几个区域？各有什么特点？ 2.3 实际声场（固体介质中的脉冲波声场）与理想声场（液体介质连续波声场有哪些不同？ 2.4 横法声场与纵波声场相比，有哪些特点？ 2.5 试连聚焦声场的结构与特点？ 2.6 聚焦探头在应用上有哪些优点和不足？ 2.7 什么是缺陷的当量尺寸？在超声波探伤中为什么要引进当量的概念？ 2.8 什么是 AVG 曲线？AVG 曲线中的 A、V、G 备代表什么？AVG 曲线可分为哪几类？ 3.l 简述超声波探伤仪中同步电路的作用？ 3.2 超声波探伤仪发射电路中的阻尼电阻有什么作用？ 3.3 超声波探伤仪的接收电路由哪儿部分组成？“抑制”旋钮有什么作用？ 3.4 什么是压电晶体？举例说明压电晶体分为几类？ 3.5 何谓压电材料的居里点？哪些情况要考虑它的影响？ 3.6 探头保护膜的作用是什么？对它有哪些要求？ 3.7 声束聚焦有什么优点？简述聚焦探头的聚焦方法和聚焦形式？ 3.8 超声波搽伤仪主要性能指标有哪些？ 3.9 简述超声探伤系统主要性能指标有哪些？ 3.10 窄脉冲超声场有哪些特点？ 3.11 对超声波探伤所用探头的晶片材料有哪些要求？ 3.12 什么是试块？试块的主要作用是什么？ 3.13 试块有哪几种分类方法？我国常用试块有哪几种？ 3.14 试块应满足哪些基本要求？使用试块时应注意些什么？ 3.16 超声波探伤仪和探头的主要性能指标有哪些？ 4.1 何谓耦合剂？简述影响耦合的因素有哪些？ 4.2 什么叫探伤灵敏度？常用的调节探伤灵敏度的方法有几种？ 4.3 何谓缺陷定量？简述缺陷定量方法有几种？ 4.4 什么是当量尺寸？缺陷的当量定量法有几种？ 4.5 什么是缺陷的指示长度？测定缺陷指示长度的方法分为哪两大类？ 4.6 超声波探伤的分辨力与哪些因素有关？ 4.7 怎样选择超声波探伤的频率？ 4.8 超声波探伤时，缺陷状况对回波高度有哪些影响？ 4.9 怎样选择超声波探伤的探头？ 4.10 试比较横波探伤几种缺陷长度测定方法的特点。 4.11 制定缺陷自身高度的方法有哪几种？试说明每种方法的原理、特点和应用。4.12 分析缺陷性质的基本原则是什么？ 4.13 什么是迟到波？迟到波是怎样产生的？迟到波有何特点， 4.14 什么是三角反射波？三角反射波有何特点？ 4.15 什么是 61°反射？61°反射有何特点？试举例说明 6l°反射在实际探伤中的应用。 4.16 超声波探伤中常见非缺陷信号回波有哪几种？如何鉴别缺陷回波和非缺陷回波？ 4.17 什么是侧壁干涉？侧壁干涉对探伤有何不利影响？避免侧壁干涉的条件是什么？ 5.1 钢板中常见缺陷有哪几种？各是怎样形成的?钢板探伤为什么采用直探头？ 5.2 钢板分哪几类？各采用什么方法探伤？ 5.3 什么是多次底波探伤法？多次底波法有何优点？如何根据底波变化情况来判断缺陷大小？ 5.4 何谓钢板探伤的多次重合法？为什么一般不推荐采用一次重合法？ 5.5 简要说明钢板探伤中，引起底波消失的几种可能情况？ 5.6 简述钢板探伤中“叠加效应”形成的原因及回波变化特征？ 5.7 探伤钢板时，常采用哪几种方法进行扫查？各适用于什么情况? 5.8 在钢板超声波探伤中，常采用什么方法来调节探伤灵敏度？ 5.9 钢板擦伤中，如何测定缺陷的位置和大小？ 5.10 钢板中常见缺陷网波有何特点？如何判别？ 5.1l 什么是复合板材？复合板材中常见缺陷是什么？一般采用什么方法探伤，如何调节探 伤灵敏度？ 5.12 试分别说明两种材质声阻抗相近和相差较大时判别缺陷的具体方法。 5.13 钢管是怎样加工成形的？常见缺陷有哪几种？一般采用什么方法探伤？ 5.14 试说明小径管纵向、横向缺陷的一般探伤方法。 5.15 小口径钢管水浸探伤时，如何调节声束入射角度？ 5.16 小口径管水浸聚焦法探伤时，为什么一般要求声束在水中的焦点要落在管子的中心轴线上？ 5.17 水浸探伤小口径管时，如何调节探伤灵敏度？ 5.18 试说明大口径管的一般探伤方法。 6.1 锻件中常见缺陷有哪几种？各是怎样形成的？ 6.2 锻件一般分哪几类？各采用什么方法探伤？ 6.3 在锻件超声波探伤中，调节灵敏度的常用方法有哪几种？各适用于什么情况? 6.4 利用锻件底波调节灵敏度有何好处？对锻件有何要求？ 6.5 锻件探伤中，常用哪几种方法对缺陷定量，各适用于什么情况？ 6.6 锻件探伤中，常见的非缺陷回波有哪几种？各是怎样形成的？如何判别？ 6.7 什么是游动回波？游动回波