波片厚度计算的延迟精度大小会影响厚度吗

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光延迟器件的设计与参数稳定性分析_[全文定稿]
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官方公共微信波片相位延迟的精确测量及影响因素分析--《中国激光》2007年06期
波片相位延迟的精确测量及影响因素分析
【摘要】:提出一种精确测量波片相位延迟的方法。将待测波片置于起偏器和检偏器之间,转动待测波片和检偏器至不同的位置并探测输出的光强,得到波片的相位延迟。采用光源调制技术和解调技术,抑制了连续光所无法克服的背景光干扰和电子噪声的干扰;将光路分为测量光路和参考光路,采用软件除法技术,消除了光源波动的影响,从而实现波片相位延迟的精确测量。详细分析了影响测量精度的误差因素,主要有光源波长变化、温度变化、入射角倾斜、转台转角误差和光源波动,计算了1064 nm波长时厚度为0.52 mm的λ/4多级结晶石英波片产生的相位延迟误差,其中光源波动的影响在作除法后有显著的改善,各误差因素的总测量误差为±1.58°。实际测量了该λ/4结晶石英波片的相位延迟为91.06°±1.78°,与理论分析相符。该测量和误差分析方法同样适合其他的波片。
【作者单位】:
【关键词】:
【基金】:
【分类号】:TN253【正文快照】:
1引言波片常在椭偏测量或光学测量中用以改变光的偏振态[1~3],波片的相位延迟误差对测量结果产生很大的影响,因此对波片进行精确测量是一个非常重要的研究课题。通过探测输出光强实现波片相位延迟测量的方法有很多种,主要有光弹性调制法[4]、双波片补偿法[5]、光外差法[6]等
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第 5 期2006 年 5 月
C HIN ESE J OU RNAL O F L ASERS
Vol. 33 , No. 5
May , 2006
文章编号 : 06
精确测量 1 /4 波片相位延迟量的新方法
胡建明1 ,2 , 曾爱军1 , 王向朝1
1 中国科学院上海光学精密机械研究所 , 上海
中国科学院研究生院 , 北京 100039
提出了一种精确测量 1/ 4 波片相位延迟量的新方法。测量光路由激光器、起偏器、被测 1/ 4 波片、光弹调制
器、检偏器和光电探测器构成。起偏器和检偏器的透光轴相互垂直。被测 1/ 4 波片的快轴与光弹调制器的振动轴
平行 ,且与起偏器和检偏器的透光轴分别成 ±45°夹角。准直激光束依次经过起偏器、被测 1/ 4 波片、光弹调制器和
检偏器的探测光强由光电探测器接收。利用探测信号的直流分量与二次谐波分量精确计算出被测 1/ 4 波片的相
位延迟量。实验验证了这种测量方法的有效性 ,改变初始光强过程中相位延迟量测量结果的复现性为 01012°,检
偏器、被测 1/ 4 波片的方位角变化 1°的过程中相位延迟量测量结果的复现性为 01008°。
测量 ;偏振 ;1/ 4 波片 ;相位延迟量 ;光弹调制器
中图分类号
O 436. 3 ; TN 247
文献标识码
Ne w Method for Measuring Retardation of Quarter2wave Plate
HU Jian2ming1 ,2 , ZEN G Ai2jun1 , WAN G Xiang2zhao1
1 S hanghai I nsti tute of O ptics and Fine Mechanics , The Chinese A cadem y of Sciences , S hanghai 201800 , China
2 Graduate School of the Chinese A cadem y of S ciences , B ei j i ng 100039 , China
A new method for measuring retardation of a quarter2wave plate is p roposed. The optical measuring
system is composed of a laser , a polarizer , the quarter2wave plate to be measured , a photoelastic modulator , an
analyzer and a detector. The polarizer and the analyzer′s t ransmission axes are perpendicular to each other.
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&&&&&&&&&专业供应定制不同规格尺寸的高精度波片
专业供应定制不同规格尺寸的高精度波片[更新日期:]
产品型号:波片
原产地:福州
品牌:福州宇晶光电
价格:面议
产品数量:1000
产品关键字:二分之一波片四分之
经营性质:私营企业
所在区域:福建福州市
地址:福州鼓楼区五一北路
描述:波片,又称为相位延迟片,通常由具有精确厚度的石英、方解石或云母等双折射晶片做成。其光轴与晶片表面平行,能使互相垂直的两光振动间产生附加光程差(或相位差)。以线偏振光垂直入射到晶片,其振动方向与晶片光轴夹 θ角(θ≠0),入射的光振动分解成垂直于光轴(o振动)和平行于光轴(e振动)两个分量,它们对应晶片中的 o光和e光。晶片中的o光和e光沿同一方向传播,但传播速度不同(折射率不同) ,穿出晶片后两种光间产生 (no-ne)d光程差,d为晶片厚度,n0和ne为o光和e光的折射率,两垂直振动间的相位差为Δj=2π(no-ne)d/λ。 两振动一般合成为椭圆偏振。Δj=2kπ(k为整数)时合成为线偏振光;Δj=(2k+1)π/2,且θ=45°时合成为圆偏振光。半波片(1/2波片):线偏振光通过二分之一波片后,仍为线偏振光,但是,其合振动的振动面与入射线偏振光的振动面转过2θ。若θ=45°,则出射光的振动面与原入射光的振动面垂直,也就是说,当θ=45°时,二分之一波片可以使偏振态旋转90°。二分之一波片还可以和PBS配合使用,旋转二分之一波片,我们可以实现可变分光比的一个分光棱镜。&四分之一波片(1/4波片):偏振光的入射振动面与波片光轴的夹角θ为45°时,通过四分之一波片的光为圆偏振光,反之,当圆偏振光经过四分之一波片后,则变为线偏振光。当光两次通过四分之一波片时,作用相当于一个二分之一波片。四分之一波片还可以和PBS配合使用,实现光隔离器的作用。
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